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| - 一种用于原子力显微镜的温控样品台和温控系统
- 中文摘要：本发明公开了一种用于原子力显微镜的温控样品台和温控系统。其中，温控样品台包括台面板、样品池和温控室。样品池设于台面板上，内固定有测温探头；测温探头外接有测温接头。温控室设于台面板下方，为样品池正下方的腔体，内设有半导体温控片和散热盘管。半导体温控片外接有温控接头。散热盘管外接有进水接头和出水接头。温控系统由温度测控...
- 申请日：2016-12-9 申请号：：CN201611129044.X
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- 微小物体的调查方法和近场光学显微镜及其实现方法
- 中文摘要：领域 : 计量的物质。本发明涉及扫描探针显微镜领域，可用于研究微起伏的反射面，例如，在晶体学，度量衡学研究中的高分子量化合物。所述的结果实现了微小物体的学习方法涉及将发出的光束所述源分成两束通过不同的光路，其中的一个涉及视频观测系统的形式制成的光检测器的另通过探针向样品从样品表面反射的气流的方向通过探头和减少第一的...
- 申请日：2016-12-8 申请号：：RU2016148243
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- 纳米级力学性能测量方法不需要最初使用原子力显微镜表征悬臂的顶端几何结构
- 中文摘要：原子力显微镜已经从纯定性检测的设备样品的形貌为定量测量工具在纳米尺度下样品的力学性能。测量大块参数必须尝试了现有技术所存在的原子力显微镜悬臂尖端的几何形状表征在能够测量一个单独实验中样品的力学性能。这是单一的最大障碍定量原子力显微镜的准确性和方便性的方法。现有技术还无法对探头的所有组的粘弹性特性的材料，因为它们不包...
- 申请日：2016-12-8 申请号：：WOUS16065673
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- 成像设备、图像处理设备、图像处理方法和显微镜
- 中文摘要：一种成像装置，包括 : 成像透镜； 图像传感器，其包括光电检测器单元阵列，其中多个光电检测器单元布置在阵列中； 透镜阵列，用于生成视差图像，所述透镜阵列设置在所述成像透镜和所述图像传感器之间，并且包括布置在阵列中的多个透镜； 以及包括硬件的处理器，其中，所述处理器获取表示由所述成像透镜和所述图像传感器形成的对象的图...
- 申请日：2016-12-8 申请号：：US15373386
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- 用原子力显微镜测量纳米级力学性能的方法
- 中文摘要：原子力显微镜已经从一种纯粹的测量样品形貌的定性仪器发展成为一种在纳米尺度上测量样品机械性能的定量工具。 在能够测量样品的机械性能之前，试图测量体参数的现有技术必须在单独的实验中表征原子力显微镜悬臂尖端的几何形状。 这是对定量原子力显微镜方法的准确性和便捷性的一个最大障碍。 现有技术也不能探测材料的全套粘弹性性质，因...
- 申请日：2016-12-8 申请号：：US16060435
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