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| - 以范围为基础的实时扫描电子显微镜的非视觉分格器
- 中文摘要：本发明揭示了一种用于识别例如SEM非视觉缺陷SNV等的非视觉缺陷的技术，所述技术包含：产生晶片的层的图像；使用分类器来评估所述图像的至少一个属性；及识别所述晶片的所述层上的所述非视觉缺陷。控制器可经配置以使用所述分类器来识别所述非视觉缺陷。此控制器可与例如扫描电子显微镜SEM的缺陷重检工具通信。
- 申请日：2016-8-3 申请号：：CN201680045369.1
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- 一种用于观察胚胎组织的显微镜
- 中文摘要：本发明公开了一种用于观察胚胎组织的显微镜，包括固定架、底座、升降台和机架，所述机架的上端设有固定架和固定支架，机架的一侧设有调节螺旋，机架的另一侧活动连接有升降台，机架上安装有与升降台互为一体的升降旋钮，机架的底端设有底座，所述固定架与固定旋架固定连接于机架上，固定架上活动连接有目镜调节装置、伸缩管和目镜，所述底座...
- 申请日：2016-8-3 申请号：：CN201610626232.7
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- 一种基于测距的实时扫描电镜非可视化分装器
- 中文摘要：技术来识别非可视缺陷，SEM等非视觉缺陷(snvs)，包括晶片生成图像的层，评估至少一个属性的图像使用分类器进行分类，识别非可视层的晶片上的缺陷。控制器可被配置为利用所述分类器来识别非可视缺陷。该控制器能够将与缺陷复查工具，例如扫描电子显微镜(SEM)。
- 申请日：2016-8-3 申请号：：WOUS16045410
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- 可扩展力电两场透射电子显微镜原位样品杆
- 中文摘要：本发明公开了一种可扩展力电两场透射电子显微镜原位样品杆，包括粗调器、信号转接头、样品杆外壳、粗调转接器、转接固定杆、同轴圈、传动杆、压电陶瓷固定器、样品杆头、压电陶瓷管、固定零件、针尖固定器，导电针管、传导电极、纳米针尖和测试电极。将测试及控制信号线插入信号转接头实现外部控制测试模块与样品杆内部压电陶瓷管、纳米针尖...
- 申请日：2016-8-3 申请号：：CN201610628566.8
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- 基于测距的实时扫描电子显微镜非可视化垃圾桶
- 中文摘要：一种识别非视觉缺陷，例如SEM非视觉缺陷(SNVs)的技术，包括生成晶片层的图像，使用分类器评估图像的至少一个属性，以及识别晶片层上的非视觉缺陷。 控制器可以被配置成使用分类器来识别非视觉缺陷。 该控制器可以与缺陷检查工具(例如扫描电子显微镜(SEM))通信。
- 申请日：2016-8-3 申请号：：US15227698
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