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| - 用于显微镜的碰撞保护
- 中文摘要：提供了一种用于将物镜安装到显微镜结构元件的设备，以及用于操作显微镜的方法。用于将物镜安装到显微镜结构元件的设备包括：接收部，其被安装或可安装到显微镜结构元件上；滑入部件，其被安装或可安装到物镜，并且该滑入部件可插入到接收部中，其中滑入部件可以进入锁定位置，在该锁定位置中，在滑入部件与接收部之间存在游隙；以及张紧单元...
- 申请日：2022-9-27 申请号：：CN202211182523.3
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- 一种用于近常压扫描隧道显微镜的扫描头
- 中文摘要：本发明涉及一种用于近常压扫描隧道显微镜的扫描头，属于近常压扫描隧道显微镜的技术领域。包括扫描管、固定限位环和扫描头主体；扫描头主体包括驱动马达、支架和中心步进杆：扫描头主体还包括压电马达、蓝宝石片、导轨、红宝石球和铍铜弹片；支架的材料为镍铁合金；压电马达由四片压电陶瓷片堆叠组成，且固定安装于支架内；导轨为槽钢状，导...
- 申请日：2022-9-26 申请号：：CN202211172526.9
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- 头戴式显微镜和显微成像系统
- 中文摘要：本申请提供头戴式显微镜和显微成像系统，所述头戴式显微镜包括第一二向色镜、第二二向色镜和图像传感器；在光遗传光学路径中，所述第一光源发出的光，经过所述第一二向色镜透射后，再经过所述第二二向色镜反射至所述实验动物的头部，以对所述实验动物施加光遗传刺激；在钙成像光学路径中，所述第二光源发出的光，经过所述第一二向色镜反射后...
- 申请日：2022-9-26 申请号：：CN202222570681.8
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- 一种透射电镜测量薄膜样品厚度的方法
- 中文摘要：本发明公开了属于材料的检测分析技术领域的一种透射电镜测量薄膜样品厚度的方法。利用会聚电子束在样品表面作用产生碳污染斑，将试样倾转一定的角度γ后，碳污染斑在明场像的形状尺寸发生变化，相互分离为具有一定距离的两个斑，通过测量上下表面碳污染斑之间的分离距离r，以及试样倾转角度γ，并利用几何关系t＝r/sinγ获得目标区域...
- 申请日：2022-9-26 申请号：：CN202210724617.2
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- 一种便于携带的荧光倒置显微镜
- 中文摘要：本实用新型公开了一种便于携带的荧光倒置显微镜，包括底座、支撑臂、物镜与载物台，所述底座底壁设有两个收纳槽，两个所述收纳槽侧壁均转动设有螺杆，所述螺杆外部通过限制机构设有移动块，所述移动块两侧外壁均转动设有转动杆，两根所述转动杆之间共同转动设有连接杆，两根所述转动杆外壁上均固定设有支撑块，两根所述转动杆外壁上均设有限...
- 申请日：2022-9-26 申请号：：CN202222540474.8
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