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| - 用于原子力显微镜探针评估方法
- 中文摘要：使用探针，如探针形状[向]客观定量地确定磨损前的状态，所述探头可以方便的知道原子力显微镜探针劣化的状态评估方法。[解决方案]最初的探针测量样品表面形状采用标准S11，初始探测数据进行分析，获取所述表面积的比率K中的参考sample0的表面形状步骤S12和发现，根据表面面积率k0，过程设定的阈值标准样品表面的面积比S...
- 申请日：2016-6-9 申请号：：JP2016114990
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- 一种光照射装置，显微镜，激光束机械加工装置和光照射方法
- 中文摘要：所要解决的问题 : 调制光的照射位置在光轴方向可以很容易地改变。溶液 : 光照射装置1a，用于照明物体被照射装置中，所述光源(10)输出光(L1)，相位调制光(L1)的光(L2)和空间光调制器20，空间光调制器20，并提供控制信号给控制部(40)，空间光调制器的相位调制表面20和20被光学地耦合到所述透镜(31)，...
- 申请日：2016-6-8 申请号：：JP2016114416
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- 全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆
- 中文摘要：本发明公开了一种全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆，包括DEWAR固定圈、DEWAR外罐上部、DEWAR外罐下部、导向销、样品杆外壳、密封圈、固定件和样品杆头、DEWAR內罐上部、DEWAR內罐下部、加热模块、固定板、真空电学接头、导线孔、样品杆内杆、PCB转接板，原位测试芯片。本发明在大温区设计的基础上，可以...
- 申请日：2016-6-8 申请号：：CN201610408612.3
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- 带电粒子显微镜中使用的阴极发光检测仪
- 中文摘要：带电粒子显微镜，其具有真空室，包括 : -试样夹持器，用于夹持试样；-源，用于产生带电粒子的探测束；一种照明装置，用于将所述光束沿着中心轴，从而照射样品，还包括 : -检测器，用于同时检测多个波长在光子从所述样品发出的辐射通量的多色响应所述辐照，该探测器包括 : -多个光敏表面产生输出信号的每一个响应于检测到的光子...
- 申请日：2016-6-8 申请号：：EP16173566
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- 一种全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆
- 中文摘要：本实用新型公开了一种全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆，包括DEWAR固定圈、DEWAR外罐上部、DEWAR外罐下部、导向销、样品杆外壳、密封圈、固定件和样品杆头、DEWAR內罐上部、DEWAR內罐下部、加热模块、固定板、真空电学接头、导线孔、样品杆内杆、PCB转接板，原位测试芯片。本实用新型在大温区设计的基础...
- 申请日：2016-6-8 申请号：：CN201620561112.9
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