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| - 一种透射电镜双倾原位纳米压痕平台
- 中文摘要：一种透射电镜双倾原位纳米压痕平台属于纳米材料力学性能-显微结构原位表征领域。该平台主要由粘接区、支撑梁、承载梁、样品载台与微型压头组成，整体结构通过半导体微细加工技术制备。原位纳米压痕实验可采用热双金属片、V型电热梁、压电、静电、电磁、记忆合金等方式进行驱动，样品通过聚焦离子束块体取样技术获得。该一体化平台可置于透...
- 申请日：2015-9-28 申请号：：CN201510629763.7
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- 基于扫描电子显微镜的微操作系统
- 中文摘要：本发明涉及一种基于扫描电子显微镜的微操作系统，应用于扫描电子显微镜设备，该基于扫描电子显微镜的微操作系统包括基座、设置在基座上的若干三轴直线运动平台和五轴宏动平台、设置在五轴宏动平台上的样品操作台和对应每个三轴直线运动平台设置的碳纳米操作手，碳纳米操作手设置在三轴直线运动平台上，若干三轴直线运动平台沿样品操作台的周...
- 申请日：2015-9-25 申请号：：CN201510621517.7
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- 具有改进的带电粒子显微镜的分光功能
- 中文摘要：本发明的带电粒子显微镜包括 : 一个光源，用于产生光束的光轴的光束沿粒子的带电粒子；一种标本夹，用于保持被测试样品上平面S‘延伸的光轴垂直于所述颗粒；一个照明装置，用于将所述辐射束以照射所述样品中；一种成像系统，用于接收带电粒子从样品通量并将其引导到传感器；-检测器装置D，用于检测从样品发出的X射线通量响应于所述辐...
- 申请日：2015-9-24 申请号：：EP15186664
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- 显微镜分辨率增强薄板的系统和方法
- 中文摘要：分辨率增强技术的实施例用于光显微物镜系统，具有三片中，一个物镜照射样品，第第二和第第三物镜收集荧光发射发射的样品的方法。第二物镜，该物镜把第第一部分的第第二检测部件检测的荧光发射，在第二部分的第第三物镜聚焦通过衍射或折射光的荧光发射组件用于检测第第一检测器组件。处理器第一和第二结合而产生的图像的用于生成合成图像的荧...
- 申请日：2015-9-24 申请号：：EP15843742
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- 用于光片显微镜系统和方法分辨率增强
- 中文摘要：本发明公开了一种用于具有三物镜布置的光片显微镜系统的分辨率增强技术的实施例，其中一个物镜照射样品，第二和第三物镜收集样品发射的荧光发射。 第二物镜聚焦荧光发射的第一部分以供第二检测部件检测，而第三物镜聚焦通过衍射或折射光学部件的荧光发射的第二部分以供第一检测部件检测。 处理器组合由荧光发射的第一和第二部分产生的图像...
- 申请日：2015-9-24 申请号：：US15511580
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