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| - 一种高发光强度光源显微镜及图像鉴别分析装置和应用
- 中文摘要：本发明涉及一种高发光强度光源显微镜及图像鉴别分析装置和应用。显微镜包括的内置高发光强度LED集光光源装置；内置高发光强度LED集光光源装置包括电源、亮度调节器、内置高发光强度LED光源、集光罩、灯座；通过亮度调节器控制LED光源发光强弱，给试样鉴别与分析提供所需光线强度。高发光强度光源显微镜图像鉴别分析装置包括高发...
- 申请日：2015-7-23 申请号：：CN201510442496.2
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- 扫描探针显微镜头设计
- 中文摘要：SPM头包括探头和悬臂，探头安装在悬臂上。 悬臂具有靠近悬臂的自由端的平面反射表面。 悬臂从机械安装件延伸，并且单模光纤由机械安装件支撑以提供相对于反射表面偏离法线的角度的光束轴。
- 申请日：2015-7-22 申请号：：US14805679
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- 扫描探针显微镜头设计
- 中文摘要：SPM，磁头包括一个探头(207)和悬臂(206)上的探头安装。本实用新型的悬臂平面反射表面(204)的自由端(205)附近的悬臂。悬臂伸出一种机械固定件(203)和单模光纤(202)支承的机械安装提供一种束轴(212)以一角度(210)上远离法线相对于反射面。
- 申请日：2015-7-22 申请号：：WOUS15041467
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- 用于样品的显微镜检查的方法和装置
- 中文摘要：一种用于样品的显微镜检查的方法，包括使样品与具有比样品高的折射率的光学透明介质接触。 产生照明光束并引导照明光束通过聚焦照明光束的照明物镜。 使用设置在检测物镜上的偏转器偏转沿要检查的样品的方向穿过照明物镜的照明光束，使得照明光束撞击光学透明介质和样品之间的边界表面，其中照明光束被全反射以消散地照明样品。 检测由样...
- 申请日：2015-7-22 申请号：：US15327391
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- 用于检查样品的方法使用一种组件，包括扫描电子显微镜和光学显微镜
- 中文摘要：本发明涉及一种检查样品的方法与一种组件，包括扫描电子显微镜(SEM)和在光学显微镜(LM)。该组件包括样品保持器，用于保持样品。样品架设置有用于检查样品，与SEM和LM，优选在相同的时间。该方法包括步骤 : 捕获样品的LM图像在其位置与SEM成像；确定感兴趣区域的位置和尺寸，所述的样品采用LM中或上的图像；确定值来...
- 申请日：2015-7-20 申请号：：WONL15050528
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