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| - 扫描探针显微镜结合物体表面改性的装置
- 中文摘要：扫描探针显微镜结合物体表面改性的装置，涉及一种测量装置，尤其用于监视对象装置使用切割后的纳米探针测试的宏，微载体结构低温条件下。本发明的目的是扩大了功能性能力的组合的扫描探针显微镜与物体表面改性的装置。本发明提高了图像质量的技术效果。所述的香精本发明恢复的那样 : 一种扫描探针显微镜结合的物体表面改性的装置，包括底...
- 申请日：2015-7-10 申请号：：EP15877224
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- 与用于改变物体表面的装置相结合的扫描探针显微镜
- 中文摘要：本发明涉及用于在纳米切割之后监测物体以及在低温条件下探究宏观和微观载体的结构的装置。本显微镜包括具有切割边缘的冲头、沿着两个轴线驱动冲头的驱动器、可以在平面内旋转的平台、可沿着三个轴线记录样品图像的压电扫描器、具有正被探究的样品的载体的保持器以及固定有探针的探针单元。压电扫描器被固定至平台，冲头被布置为能够与正被探...
- 申请日：2015-7-10 申请号：：CN201580077521.X
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- 扫描探针显微镜结合有一物体的表面改性的装置
- 中文摘要：本发明涉及一种纳米切后的对象监控装置和用于检测宏的结构和低温条件下微载体。本发显微镜包括冲头具有切割边缘，带动其沿两个轴的驱动冲头，平面中的可转动的平台，一种压电扫描器可沿着三个轴线记录样品图像，与载体保持架的在研究中，和探针单元，其中探头被紧固。压电扫描器固定到平台，所述冲头设置，从而能够与样品相互作用研究，和探...
- 申请日：2015-7-10 申请号：：WOKZ15000010
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- 激光扫描显微镜的操作方法
- 中文摘要：激光扫描显微镜的操作方法。 该显微镜包括 : 照明光路，其中布置有至少一个照明光源；检测光路，其中结合有至少一个光电倍增管(PMT)作为检测器；以及控制单元，用于控制荧光实验。 通过控制单元交替地以高强度照射样品，并且随后检测采样点和/或样品区域的荧光衰减行为。 根据照明模式，控制单元通过直接位于PMT高压电源中的...
- 申请日：2015-7-9 申请号：：US14795491
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- 用于扫描探针显微镜的探针及其制造方法
- 中文摘要：[问题]的空间分辨率和电导率探头用于扫描探针显微镜的探针具有碳纳米管，和它们的混合物的特性可以再现性良好地得到探针的方法。[解决方法]一种芯片，该芯片包含探针的扫描探针显微镜尖端伸出的探针，该探头由碳纳米管，碳纳米管的顶端为一个突起，所述芯片固定有固定件，所述固定部固定于所述芯片的一侧的面上的碳纳米管，所述固定部件...
- 申请日：2015-7-8 申请号：：JP2015136715
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