产业集群信息网

  • 所述聚焦装置以及光学显微镜
  • 中文摘要:[问题]观察对象的高精度调焦装置可以控制。[解决方案]一种显微镜物镜方向和垂直于光轴的阶段,所述载物台旋转自如地保持在围绕旋转轴线垂直于光轴调整装置,其设置。图[图1]
  • 申请日:2015-6-23    申请号::JP2015125479

  •  
  • 相位调制装置和激光显微镜
  • 中文摘要:相位调制装置3具有第一相位调制元件11是相位调制的光束根据电压施加到每个的多个第一电极,形成以施加,所述光束,相位调制的具有反向极性的量的相位分布的按照第一的比例第二像差成分到第一波前像差的像差成分所引起的光学系统,包括物镜4,第第二相位调制元件12,相位调制的光束根据施加的电压每个形成多个第二电极,以施加,所述光...
  • 申请日:2015-6-22    申请号::WOJP15067914

  •  
  • 选择焦距的方法,选择透射电子显微镜的焦点距离
  • 中文摘要:[A]的透射型电子显微镜能够容易地选择焦距的方法。透射电镜的焦距的确定方法[A],一个或多个的透射电子显微镜图像采集的不同焦距3的各对比度评估值被确定,和所确定的近似曲线近似的焦距之间的关系的各对比度评价值,差动焦距的两个相邻的零值近似曲线3所示,一种焦距的焦距的对比度评估值指示从所述最大值3,差值从正至负的变化曲...
  • 申请日:2015-6-22    申请号::JP2015124879

  •  
  • 扫描探针显微镜测量物体表面的方法模式
  • 中文摘要:领域 : 测量设备的方法。扫描探针显微镜测量物体表面的方法涉及测量设备可应用于研究的样品的结构,例如医用生物材料和制品。方法包括准备物体9的表面10通过其切割物体的相对移动,沿第三位置9和刀片3带边缘4,位于沿第二坐标Y的探头(13)是物体9的表面10沿第一X坐标,相对进行扫描,探头13和第二中的对象9的平面表面1...
  • 申请日:2015-6-22    申请号::RU2015124125

  •  
  • 具有多束和检测后图像校正扫描透射电子显微镜
  • 中文摘要:实施例还涉及用于生成样本的校正图像的信息处理系统。 所述系统包括检测器、通信地耦合到所述检测器的存储器、以及通信地耦合到所述存储器和所述检测器的检测后图像处理器。 所述系统被配置为执行包括由所述检测器检测多个运动颗粒的数据的方法,其中所述多个运动颗粒的数据对应于所述样本的未校正图像,并且其中所述未校正图像包括散焦、...
  • 申请日:2015-6-22    申请号::US14745634

  •  
  • 总计: 14021 篇   首 页  上一页  下一页  末 页