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| - 方法用于获得3D图像的色差透镜和3D显微镜及其使用
- 中文摘要：3维图像进行白光源波长可变滤光器(彩色滤光片)使用每个焦距被光从第一表面的发光二极管通过获取对象的图像的3维图像或重新配置3的3D测量的透镜的色像差的使用3维图像获取方法及装置使用该三维显微镜公开内容3。本发明涉及光源(λ)特定波长，然后转发给受试者，特定波长的光的光源由在对象然后获得的摄像机的图像，图像得到波长和...
- 申请日：2015-4-28 申请号：：KR1020150059684
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- 超分辨显微镜
- 中文摘要：公开并描述了一种超分辨率显微镜系统。 该系统可包括适于接收包括探针分子的样品(185)的样品台(180)。 提供至少一个光源(105)以产生相干激发光来激发探针分子并使探针分子发光。 图像检测器(100)可以检测来自探针分子的发光。 微透镜阵列(125)可以位于来自至少一个光源(105)的相干光的光路(110)中。...
- 申请日：2015-4-24 申请号：：US15306357
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- 在电子显微镜支架及探针单元
- 中文摘要：本发明涉及电子显微镜装置中设置有至少一个用于提供探针单元。本发明目的的本发明的余量程度上的移动探针与电子显微装置组至少一个用于所述探头单元的记录操作。在公共事务号码。为此，本发明根据压电管和电镜的夹持装置沿轴线方向延伸的探针编织型；压电管，固定在所述固定件的一端和下固定件；所述的绝缘基板上，并且耦合到室中子句的横向...
- 申请日：2015-4-24 申请号：：KR1020150057828
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- 用于宝石表面折射率测量的宝石显微镜
- 中文摘要：一种用于宝石表面折射率测量的宝石显微镜，包括观察镜头1、调节固定座2、底部光源3、侧向光源4、分光镜5、外壳6、测量光源7、汇聚镜头8、棱镜9、宝石夹10、遮光罩及光阑11、探测器12，其中观察镜头采用普通宝石显微镜的全部观察镜头，包括物镜和目镜，本发明折射率测量放置在封闭的外壳中，减小观测过程中环境光对折射率测量...
- 申请日：2015-4-24 申请号：：CN201510197673.5
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- 自动扫描电镜纳米探针工具
- 中文摘要：本发明的各方面提供了一种装置，其包括主梁柱，主梁柱被配置成将高能粒子的主梁引导到包含一个或多个集成电路结构的样品上的感兴趣位置上， 检测器，被配置为响应于检测到由于高能粒子束和感兴趣位置之间的相互作用而产生的二次带电粒子，以及信号处理器，被耦合到检测器，被配置为测量从检测器产生的信号产生二次带电粒子的瞬态行为，以及...
- 申请日：2015-4-24 申请号：：US14696122
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