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  • 超声阵列探测多聚焦光学分辨光声显微镜
  • 中文摘要:本发明公开了一种用于成像系统的探头,包括 : 扫描装置,被配置为从光源接收第一光束;分束器,被配置为将第一光束分成多个第二光束;以及聚焦装置,被配置为将每个第二光束聚焦在感兴趣对象中的相应位置。
  • 申请日:2015-3-5    申请号::US14639676

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  • 显微镜载玻片
  • 中文摘要:用于组织学或细胞学使用显微镜载片与非倒置式光学显微镜,优选的亮场显微镜,包括基本上扁平细长体,所述本体包括一第一表面及一第二表面间隔开的第一表面,该本体包括一个孔,通过本体,所述第二表面基本上是平的,光学透明的盖玻片安装在所述第二表面上,以覆盖所述孔。
  • 申请日:2015-3-4    申请号::WOGB15050617

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  • 显微镜装置及分析方法
  • 中文摘要:[问题]提供一种显微镜装置,其能高精度的分类对象,和可未染色分析。[解决方案]该装置具有 : 光源用于照射一对象的光;一种成像装置,用于对对象成像的图像到一次像面,一种图像拾取装置,其设有检测器,在拾取的图像,被施加与通过扩散从图像光束,和其获取基于入射光的信号梁,和与移动装置,用于移动所述图像拾取器位置在规定的方...
  • 申请日:2015-3-3    申请号::WOJP15056217

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  • 扫描频率梳状显微镜(SFCM)在半导体载流子剖面测量中的应用
  • 中文摘要:将锁模超快激光器聚焦在扫描隧道显微镜(STM)的隧道结上,产生微波频率梳(MFC)。 MFC由数百个可测量的谐波组成,这些谐波叠加在直流隧穿电流上,频率是激光器脉冲重复频率的整数倍。 在扫描频率梳状显微镜(SFCM)中,STM的尖端和/或样品电极垂直地和横向地移动,使得可以在样品表面上的一个或多个位置测量MFC中的...
  • 申请日:2015-3-2    申请号::US14635828

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  • 具有高速点光谱的红外散射扫描近场光学显微镜的方法和装置
  • 中文摘要:本发明涉及通过红外散射扫描近场光学显微镜(S-SNOM)以亚微米空间分辨率测量材料的光学特性。 具体地说,本发明通过实现高信噪比、高测量速度和高光学振幅和相位精度,提供了与现有技术相比的实质性改进。 另外,在一些实施例中,它消除了对原位基准的需要,以计算光学相位的波长相关光谱或吸收光谱。 这些目标是通过改进的非对称...
  • 申请日:2015-3-1    申请号::US14634859

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