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| - 自动扫描探针显微镜系统中的精确探针放置
- 中文摘要：一种扫描探针显微镜(SPM)系统和相关方法。 所述SPM系统具有适于与样品的纳米级特征相互作用并在目标区域内扫描以产生所述目标区域的三维图像的探针， 所述系统根据样本特定坐标系维护所述样本的多个感兴趣特征的位置信息，其中所述SPM系统被配置成根据SPM坐标系调整所述探针相对于所述样本的定位，所述SPM系统还被配置成...
- 申请日：2015-2-24 申请号：：US14630074
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- 光学显微镜系统和拉曼散射自适应光学器件的方法
- 中文摘要：本发明涉及一种拉曼散射的光学显微装置，包括激光源(10)适于发射一激光束(11)在激励波长λ，显微物镜(14)适于接收所述激光束(11)并聚焦激光束在图像显微镜物镜的平面(14)，聚焦激光束(21)用于照射样品(20)，光学系统适于收集光纤拉曼散射光束(22)和检测装置(16，17)适于检测拉曼散射光束(22)收集...
- 申请日：2015-2-24 申请号：：WOFR15050447
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- 精密探头放置在自动扫描探针显微镜系统
- 中文摘要：一种扫描探针显微镜(SPM)的系统和相关方法。SPM系统具有适于相互作用的探针与样品的纳米级特征和扫描在目标区域以产生目标区域的三维图像，所述系统位置信息的维护用于多个样品的感兴趣的特征根据样品特定坐标系统，所述SPM系统被配置为调整定位的探针相对于样品根据SPM的坐标系统，SPM系统还被配置成管理动态样品特异性的...
- 申请日：2015-2-24 申请号：：WOUS15017319
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- 用于自动扫描探针显微镜的方法和装置
- 中文摘要：本发明涉及扫描探针显微镜和相关仪器(“SPM”)，当用于调查或测量大样品时，所述大样品的尺寸是SPM的典型操作扫描区域的倍数，例如至多150μm×150μm。 为了避免在聚焦SPM时频繁的调整或其他耗时的人工交互和错误，公开了一种用于大样本的SPM扫描的多步骤自动化方法，包括适于扫描大样本的“粗”即低分辨率的非SP...
- 申请日：2015-2-24 申请号：：US14629817
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- 用于创建显微镜样品光学断层图像的装置和方法
- 中文摘要：本发明涉及一种用于创建光学断层图像的方法， 其包括提供光学显微镜的步骤， 在显微镜的透镜(5)的光学覆盖区域中设置样品(1)， 将透镜的焦点设置到特定焦平面(2)， 通过显微镜记录样品的图像， 将样品旋转一角度α，任选地沿着透镜(5)的纵轴(Z)和/或垂直于先前记录的图像(9)的平面移动样品，并继续步骤D的方法，直...
- 申请日：2015-2-20 申请号：：US15551891
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