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| - 扫描透射电镜和像差测量方法
- 中文摘要：从ronchigram像差信息的采集容易错误的发生。这样，ronchigram成像时，焦点之间的位置关系的电子探针成像到样品表面或者在其附近其多种精细地高度方向，和所获取的ronchigram(聚焦调制ronchigram)用于测量像差。
- 申请日：2014-7-7 申请号：：WOJP14068078
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- 多探测器电子显微镜的安装结构
- 中文摘要：一种用于电子显微镜的检测器支撑件，包括检测器支撑环和柔性元件，其中每个柔性元件的第一端连接到支撑环，并且其中检测器支撑环和柔性元件配置成围绕电子显微镜的光轴以圆周布置支撑至少两个检测器，使得所述至少两个检测器中的每个检测器的光轴与电子显微镜的光轴相交，并且所述至少两个检测器的目标点在温度变化期间保持相对恒定。
- 申请日：2014-7-7 申请号：：US14325166
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- 具有ＨＤＭＩ输出功能的电子显微镜
- 中文摘要：本创作系一种具有HDMI输出功能的电子显微镜，包含电子显微镜本体、影像撷录模组、液晶显示器以及HDMI输出介面。电子显微镜本体，其具有一架体、一底座、一载物台、至少一调节旋钮以及物镜筒，而物镜筒上设有焦距调节钮。影像撷录模组，其设置於单筒望远镜本体内，用以将物镜筒所摄入之光学影像讯号转换为电子影像讯号并传送至控制处...
- 申请日：2014-7-4 申请号：：TW103211927
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- 一种红外散射扫描近场光学显微镜的方法和装置
- 中文摘要：本发明涉及通过红外散射扫描近场光学显微镜(S-SNOM)以亚微米空间分辨率测量材料的光学特性。 具体地说，本发明通过实现高信噪比、高测量速度和高光学振幅和相位精度，提供了与现有技术相比的实质性改进。 另外，在一些实施例中，它消除了对原位基准的需要，以计算光学相位的波长相关光谱或吸收光谱。 这些目标是通过改进的非对称...
- 申请日：2014-7-2 申请号：：US14322768
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- 基于原子力显微镜的微纳米结构侧壁表面成像装置及该装置的成像方法
- 中文摘要：基于原子力显微镜的微纳米结构侧壁表面成像装置及该装置的成像方法，涉及采用AFM对微纳米结构侧壁表面进行扫描成像的技术。它为了解决传统AFM很难实现对微纳米结构侧壁表面进行扫描成像的问题。本发明在原有的原子力显微镜的基础上增加了探针架，使探针能够绕X轴方向旋转，此外还增加了样品台在XZ扫描平面内的距离伺服控制程序，使...
- 申请日：2014-7-1 申请号：：CN201410310642.1
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