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  • 光学显微镜装置,显微方法,和计算机程序,用于使用单灯显微镜的发光粒子探测技术
  • 中文摘要:本发明提供了一种显微技术,使用扫描分子计数技术,使得能够检测发光体或发光颗粒中的位置动态变化厚样品。该光学显微技术检测发光粒子(lp)通过检测液体中移动的光从所述发光颗粒通过共聚焦显微镜(lp)光学或多光子显微镜的光学器件。在加工操作,光从光检测区域(CV)检测作为所述光检测区域(CV)的每一个内移动多个观测的亚区...
  • 申请日:2014-6-23    申请号::WOJP14066541

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  • 共焦谱显微镜
  • 中文摘要:本发明涉及涉及一种共焦显微镜和结果。共焦显微光谱成像光谱仪显微镜的同时具有多峰显微镜,共聚焦显微镜的或SC数据记录用的激光的光谱成像光谱仪数据记录使用激光与一种对应的方法识别操作中的探针位置的微观角度的光路切换到其他光分路器(分束器)的激光入射路径确定(sfu)单元切换过滤器,物镜和光学放大管(PMT,phton多...
  • 申请日:2014-6-20    申请号::KR1020140075941

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  • 高精度过滤交换装置用于多模态显微镜
  • 中文摘要:本发明的多模态是指过滤器交换装置,涉及用于显微镜的精度,光学显微镜(宽视场)和共焦显微镜(共焦显微镜)和光子显微镜(TPM,两个光子显微镜)和荧光显微成像的光谱成像光谱成像的使用寿命)(膜,荧光寿命成像显微镜)和两个或多个偏振显微镜和结果结合,以便显微镜在多模式中显微镜,所述多峰显微镜上设置有光源为多个的辐射拍摄的...
  • 申请日:2014-6-20    申请号::KR1020140075939

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  • 用于红外显微镜放大组件
  • 中文摘要:本发明公开了一种红外显微镜。 所述红外显微镜包括被配置成支撑样品的样品台; 物镜,被配置为将从所述样品发出的辐射聚焦到物镜和红外检测器之间的中间图像平面; 以及放大组件,包括设置在固定位置的第一组反射元件和第二组反射元件。
  • 申请日:2014-6-20    申请号::US14310143

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  • 用表面轮廓仪扫描电子显微镜检测厚度变化和定量深度
  • 中文摘要:描述了一种用于检测主题材料厚度变化的方法和系统。 一方面,评估磁盘驱动器存储器系统在磁头的极尖区域处的摩擦学磨损。 利用扫描电子显微镜(SEM)获得对象材料的第一区域和第二区域的图像。 对SEM图像进行图像处理以获得第一区域和第二区域之间的微分对比度。 通过获得第一区域和第二区域的表面轮廓仪图像,并将SEM图像与表...
  • 申请日:2014-6-20    申请号::US14310294

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