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| - 阴极发光超快电镜及测量时间分辨阴极发光的方法
- 中文摘要：由于其涉及阴极射线光超快电子显微镜和使用其的阴极射线光测量方法，所以阴极射线光超快电子显微镜具有在透射电子显微镜(TEM)中具有优异的空间分辨率和时间分辨率的优点，因此使用其的阴极射线光测量方法具有有效且精确地跟踪电荷-能量转移动力学的优点。
- 申请日：2022-8-1 申请号：：KR1020220095676
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- 一种失效分析显微镜
- 中文摘要：本实用新型提供了一种失效分析显微镜，包括：会聚超透镜和显微系统，所述显微系统包括显微物镜；所述会聚超透镜位于所述显微系统外侧，并与所述显微物镜位置对应；所述会聚超透镜远离所述显微物镜的一侧用于放置待测样品，所述会聚超透镜用于对所述待测样品所出射的激发光线进行会聚，并将会聚的激发光线射向所述显微物镜。通过本实用新型实...
- 申请日：2022-8-1 申请号：：CN202222004006.9
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- 一种带手机支架的电子目镜显微镜
- 中文摘要：一种带手机支架的电子目镜显微镜，属于显微镜技术领域，包括底座、光源调节轮、臂架、调焦手轮、载物平台、连接头、物镜转换器、3个物镜、连接套、电子目镜装置；臂架固定设置在底座后上方，调焦手轮设置在臂架中部，载物平台通过调焦手轮设置在底座上方；连接套设置在连接头上方，连接套下端与连接头固定连接，连接套一侧与臂架前上端固定...
- 申请日：2022-8-1 申请号：：CN202222038888.0
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- 一种暗场显微镜
- 中文摘要：本实用新型提供了一种暗场显微镜，包括：光源、第一准直透镜、汇聚超透镜、载样台和显微系统；光源用于向第一准直透镜发出照明光束；汇聚超透镜用于将第一准直透镜准直的照明光束汇聚为贝塞尔光束；载样台位于贝塞尔光束的汇聚位置，用于放置待测样品，待测样品能够在贝塞尔光束作用下出射衍射光束；显微系统位于载样台出射衍射光束的出光侧...
- 申请日：2022-8-1 申请号：：CN202222005730.3
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- 原子力显微镜的针尖的检查方法及半导体装置的制造方法
- 中文摘要：提供了一种操作原子力显微镜(AFM)的方法。 该方法包括通过使用AFM检查样品和通过使用表征样品检查AFM的探针的尖端。 表征样品包括包含第一高度的线和间隔图案的第一表征图案、包含低于第一高度的第二高度的线和间隔图案的第二表征图案、以及包含低于第二高度的第三高度的线和间隔图案的第三表征图案，并且包括粗糙表面。
- 申请日：2022-8-1 申请号：：US17878414
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