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| - 与定向平面光源入射的照明装置，用于显微镜
- 中文摘要：本发明涉及一种入射照明装置，用于一用于观察显微镜样品(1)在所述显微镜(10); 与一平面光源(100)用于入射照明的样品(1)，其中所述平面光源(100)。包括一板形光波导具有一个较低的接口，一个上部接口和至少一个侧面作为以及至少一个照明装置，其被设置在这样的一种方式使其发射光到所述光波导通过至少一个侧面作为光入...
- 申请日：2013-8-2 申请号：：WOEP13066320
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- 光学装置和光显微镜
- 中文摘要：本发明涉及一种光学装置用于一束光的路径中定位显微镜，包括至少一第一和第二光学组件，用于提供结构化的照明光从入射光。所述的光学装置，根据本发明，其特征是在不同的光束路径上能使光被引导到所述的各种光学组件及还在所述样品的方向，使电子控制装置被设置和设计中，以照亮在每个光束路径从所述不同的光束路径的情况下，以不同的光学组...
- 申请日：2013-8-2 申请号：：WOEP13066314
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- 光学显微镜中设置和补偿方法
- 中文摘要：所要解决的问题 : 提供一种补偿光学元件的设置方法和显微镜能够高精度控制参数待测溶液 : 光学元件(42)中设置的补偿方法的扫描型显微镜(10)具有 : 获取参考图像的第第一工序；第第二步骤，使补偿光学元件的照明光的波前变化成两个以上不同的状态，获取样品图像在预定范围内的多个位置在光轴方向包括 : 在每个预定位置状...
- 申请日：2013-8-2 申请号：：JP2013160985
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- 设置和补偿光学显微镜的方法
- 中文摘要：所要解决的问题是 : 本发明提供一种补偿光学元件的设定方法及显微镜，其不使用荧光就能够求出相对于补偿光学元件的高精度的控制参数。 一种在扫描显微镜(10)中设置补偿光学元件的方法，具有 : 第一步骤，通过利用第一波长的照明光获取参考位置处的样品图像来确定感兴趣区域； 第二步骤，通过第二波长的照明光获取参考位置处的...
- 申请日：2013-8-2 申请号：：JP2013160988
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- 使用静电电子显微镜的物镜
- 中文摘要：本发明涉及一种使用扫描电子显微镜柱设有用于生产电子源梁(100)电子，静电浸物镜，用于聚焦该光束在样品(102)，和检测器(116)在源侧的物镜，用于从液晶盒出射的电子检测样品，检测器，示出了用于使电子束孔，检测器至少部分地围绕光束，透镜设置有第一电极(110)，通过该光束进入透镜；和第二电极(106)，通过该束离...
- 申请日：2013-8-2 申请号：：EP13179026
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