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| - 垂直照明暗场显微镜
- 中文摘要：本发明给出了一种垂直照明的暗场显微系统。该显微镜包含：照明光源及准直光学系统，用于会聚入射光的长工作距离聚光镜，用于反射所会聚入射光束的小尺寸平面反射镜及镜架，用于收集散射光的大数值孔径长工作距离物镜，用于对所收集散射信号进行成像的光学系统以及成像CCD。现有的倾斜照明暗场显微镜具有一个严重问题：在观察暗场信号或者...
- 申请日：2013-6-7 申请号：：CN201310224827.6
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- 使用自组装宽场显微镜液体透镜
- 中文摘要：样品成像的方法，包括含有所述样品小滴沉积在基板上，该样本具有多个流体内包含的颗粒。衬底被接着倾斜成利用重力地驱动液滴边缘的衬底，同时形成分散具有液体透镜的单层颗粒上围绕所述颗粒。多个包含的颗粒的低分辨率图像在衬底上获得，所述基板之间插入的照明光源和图像传感器，其中每个较低分辨率图像获得离散的空间位置。多个较低分辨率...
- 申请日：2013-6-5 申请号：：WOUS13044366
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- 具有LED调节灯的显微镜
- 中文摘要：本实用新型涉及一种具有LED调节灯的显微镜，包括支撑臂，在支撑臂的下部设有底座，在支撑臂的上部设有伸出臂，在伸出臂上设有镜筒，在镜筒的上端和下端分别设有目镜和物镜，在镜筒上设有调焦旋钮，在镜筒的侧壁上、且靠近物镜的位置处设有滑轨，在滑轨上设有可沿滑轨作直线滑动的转动轴销，在转动轴销上铰接安装有LED调节灯筒，在LE...
- 申请日：2013-6-3 申请号：：CN201320313512.4
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- 控制程序，控制装置和控制方法，扫描探针显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 样品测得的表面不规则性时而存在的扫描探针显微镜，测量的物理特性值，从而不被影响的不均匀，不规则或快速准确地测量物理属性值。方法 : 扫描探针显微镜控制装置20，在待测样品表面的用于第一的线1和输出控制信号和第二控制信号输出部(1)21a，一个第一根据线1的控制信号通过扫描获得的测量的表面样品的信息...
- 申请日：2013-6-3 申请号：：JP2013117181
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- 扫描探针显微镜和用于观察样品使用相同的方法
- 中文摘要：本发明的目的是以增加所述检测光之间产生近场光的量测量探针和一通过增加所要检查的样品的Na检测光学系统在一个扫描近场光学显微镜，和提高所述的SN比和测量一种近场光图像的再现性。本发本发明提供了一种扫描探针显微镜具有 : 一种用于扫描一待检查的样品测量探针，一激光照射系统，用于与激光光照射所述测量探针附近，一个样品架，...
- 申请日：2013-6-3 申请号：：WOJP13065316
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