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| - 一种太赫兹近场光学显微镜光路指引装置
- 中文摘要：一种太赫兹近场光学显微镜光路指引装置，包括用于发射太赫兹波的太赫兹发射天线，太赫兹波经第一开孔抛物镜准直、聚焦抛物镜聚焦后聚焦于所述探针上，太赫兹波经所述探针反射、聚焦抛物镜反射、第二开孔抛物镜聚焦后由太赫兹接收天线接收；第一开孔抛物镜、第二开孔抛物镜上设置有透光孔，可见光发射源发射的指引可见光穿过所述透光孔后，指...
- 申请日：2022-6-22 申请号：：CN202221571386.8
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- 扫描电子显微镜和物镜
- 中文摘要：提供了一种扫描电子显微镜，其具有能够被抽空到低真空的样品室。 扫描电子显微镜(100)包括：电子枪(10)，用于发射电子束; 物镜(40)，用于将所发射的电子束聚焦到样品(S)上; 以及样品室(4)，其中容纳样品(S)。 物镜(40)包括内极片(402)、设置在内极片(402)外侧并面向样品室(4)的外极片(404...
- 申请日：2022-6-22 申请号：：EP22180336
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- 一种基于光学显微镜的芯片外观检测一体化装置
- 中文摘要：本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，公开了一种基于光学显微镜的芯片外观检测一体化装置，包括调节观测结构和显微镜观测结构，调节观测结构的上端位置处固定连接有显微镜观测结构，调节观测结构包括旋转台面、上台面、下台面、第一铰架和第二铰架，上台面的中心转动连接有旋转台面，上台面的侧端位置固定连接有第一铰架，第一铰架的底端位...
- 申请日：2022-6-21 申请号：：CN202221564289.6
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- 校准方法、扫描电镜、控制装置和存储介质
- 中文摘要：本申请公开了一种校准方法、扫描电镜、控制装置和存储介质。本申请实施方式提供的种扫描电镜参数的校准方法包括：采集位于样品台上的标准样品在不同聚焦电流下的图像；读取所述图像的信噪比；记录在所述信噪比为最高值对应的聚焦电流值；获取当前实际工作距离；基于所述实际工作距离，将工作距离与所述聚焦电流值拟合关联得到第一关系；基于...
- 申请日：2022-6-21 申请号：：CN202210707486.7
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- 用于刷新用于扫描探针显微镜设备的探针的方法和系统以及用于执行所述方法的计算机程序产品
- 中文摘要：本发明涉及一种修整用于扫描探针显微镜装置的探针的方法，其中探针是用过的或损坏的探针，并且包括悬臂和探针尖端。 所述方法包括接收所述探针，确定所述探针的现有探针结构并映射所述现有探针结构以获得现有探针结构数据。 所述方法还包括基于现有探针结构数据，在所述探针的使用或损坏之前，识别与所述探针的原始探针结构的偏差。 基于...
- 申请日：2022-6-21 申请号：：WONL22050356
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