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| - 调谐扫描探针显微镜的方法和装置
- 中文摘要：示出了一种自动确定诸如原子力显微镜(AFM)的扫描探针显微镜的工作频率的装置和方法。 当扫过一定频率范围时，不基于探头的幅度响应的峰值来选择工作频率； 相反，仅使用对应于TIDPS曲线的峰值数据来选择工作频率。
- 申请日：2012-11-12 申请号：：US13674774
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- 一种透射光学显微镜的样品梯度照明装置
- 中文摘要：本实用新型公开了一种透射光学显微镜的样品梯度照明装置，包括第一凸透镜、第二凸透镜、空间滤波器和散射片。本实用新型通过空间滤波器的滤波作用和散射片的平滑作用，用产生的梯度光强度照明显微镜，明显的增强了透射光穿过样品成像时的对比度。利用本实用新型，实验人员可以清楚的识别细胞，精准的定位细胞胞体以及树突与轴突的走向。
- 申请日：2012-11-9 申请号：：CN201220590121.2
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- 透射光学显微镜的样品梯度照明方法和装置
- 中文摘要：本发明公开了一种透射光学显微镜的样品梯度照明方法，和实现该方法的透射光学显微镜的样品梯度照明装置，包括第一凸透镜、第二凸透镜、空间滤波器和散射片。本发明通过空间滤波器的滤波作用和散射片的平滑作用，用产生的梯度光强度照明显微镜，明显的增强了透射光穿过样品成像时的对比度。利用本发明，实验人员可以清楚的识别细胞，精准的定...
- 申请日：2012-11-9 申请号：：CN201210448976.6
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- 装置和方法用于三维定位的显微镜样品中的点对象
- 中文摘要：本实用新型具有检测器单元(146, 148)，其接收光束。所述探测器单元探测面(150, 152)上设置有用于检测光点。评估单元(154)评估每个光束光斑的相应检测XY位置的侧表面上点状物体相关联(114)和轴向z位置相关联的点状物体。所述评价单元中存储的Z位置校正值，以具有纵色像差检测的光学器件(108)。所述评...
- 申请日：2012-11-9 申请号：：JP2012247350
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- 装置用于测定材料的变形状态的方法中的原子-功率显微镜
- 中文摘要：装置，用于测定材料的变形状态的方法中的原子-功率的显微镜表示机构，dvigayushchii与固定夹持样品在相反侧，其从被探针原子-功率显微镜上，并具有总金属底座，固定在支撑架上的样品支架原子-功率显微镜，其两个侧面上被两个平行导轨，其在旋转把手的螺钉与分割相对于左和右螺纹的横向轴线，提供同时发散和迎面而来的，移动...
- 申请日：2012-11-8 申请号：：RU2012147674
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