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| - 针尖增强暗场显微镜、电化学测试装置和调平系统
- 中文摘要：本发明提供一种针尖增强暗场显微镜、电化学测试装置和调平系统。本发明的针尖增强暗场显微镜的特征在于，所述针尖增强暗场显微镜使用光纤探针，所述光纤探针的针尖处修饰有金属纳米颗粒，而且入射光在修饰有金属纳米颗粒的光纤探针内部传输，针尖和样品间的距离采用光强控制模式，是一种利用了探针针尖处纳米金属颗粒与金属基底材料近场耦合...
- 申请日：2012-8-14 申请号：：CN201210288539.2
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- 用于一种无透镜装置，holografisches列直插式反射的光显微镜
- 中文摘要：本发明涉及一种用于无透镜装置，-线反射的光显微镜中的全息。本发明的目的是以提供这样的一个装置，其允许基于芯片的一紧凑的设计省略成像光学系统，其中即使大样品或试样部分可以被成像的，这是在样品载体(2)与一个样品(21); 一平面-平行的部分半透明反射镜(3)上方设置所述样品载体在第一的距离(H1)到所述样品; 和一个...
- 申请日：2012-8-14 申请号：：DE102012016318
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- 用于分配装置和方法在一显微镜的照明光并检测光
- 中文摘要：所述装置(10)具有一个分布的光(12)，其中一个探针(18)和上引导照明光的检测光发射从所述探头到一检测器(26)。该分布的光具有一极化单元，用于将所述的照明路径上对准所述探头为一个偏振状态，其中所述偏振被设置在一个光路径。一分束器被提供有用于引导所述的照明光的偏振依赖性传送到所述的偏振状态到所述探针。所述分束器...
- 申请日：2012-8-10 申请号：：EP12180040
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- 提供深度分辨图像带电粒子显微镜
- 中文摘要：一种使用带电粒子显微镜检查样品的方法， 包括以下步骤 : 使用粒子光柱将至少一束粒子辐射引导到样品的表面S上， 从而产生使发射的辐射从样品发射的相互作用，使用检测器装置检测所述发射的辐射的至少一部分， 该方法包括以下步骤 : 记录所述探测器装置的输出作为所述发射的辐射的出射角θn的函数， 使用计算机处理设备自动地...
- 申请日：2012-8-10 申请号：：US13572449
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- 共焦显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 灵活地或测量速度的测量精度可以被改变以提供一个共焦显微镜。溶液 : 和一光源101，光从该光源101到一个先前选择的目标通过的仅一部分所述区域Wdmd103和反射该光路径，和以控制所述DMDdmd103控制部104，该光dmd103和所述的光学路径上反射的反射通过该待测物体和W是所述返回光穿过物镜...
- 申请日：2012-8-9 申请号：：JP2012176616
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