|
| - 显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 可见荧光观察和ovservation相对象和其可提供一种紧凑和一种显微镜。溶液 : 观察荧光显微镜1和该相位和进行观察，所述物镜和所述的相位的差值所述相位差透镜6的所述物镜透镜6被设置在所述出口之间的光瞳面7和一相膜8和包括一个成像光学系统，其中所述激励光的喷出5的喷出5中用于所述可视化所述的照明...
- 申请日：2012-5-17 申请号：：JP2012113011
-
- 扫描电子显微镜，缺陷检查装置，缺陷检查装置
- 中文摘要：本发明的目的是，捕获尝试时，通过扫描电子显微镜，缺陷区域的图像上出现样品如晶片，显示面板，磁盘，等，降低这种故障的发生率是没有被捕获图像中的缺陷。扫描电子显微镜，缺陷检查系统，和根据本发明的缺陷检查装置包括 : 输入缺陷检查数据，具有坐标和缺陷的特征量(241); 在每缺陷预测基础由扫描电子显微镜检测是否是可能的或...
- 申请日：2012-5-16 申请号：：WOJP12062555
-
- 基于一种显微镜图像的实时连续和校准
- 中文摘要：本发明的第一方面，本发明涉及一种用于处理图像的方法通过图像探测器获取的与非均匀的传递函数，不规则空间位置，包括 : 蓄从多个图像数据，定义亲合性，图形联的单个检测器相关的测量信号; 对累加数据进行统计分析从联的检测器; 解决从构建的系统统计分析的结果来估计每个探测器传递函数，构成该组的校准的成像系统。
- 申请日：2012-5-16 申请号：：JP2014510902
-
- 光学显微镜和用于该图像记录过程与一光学显微镜
- 中文摘要：本发明涉及一种光显微镜，包括 : 一种多色光源用于发光的照明光在该方向一个样品，用于聚焦的照明光的聚焦装置到所述样品，其中所述聚焦装置，用于产生一个深度分辨率; 具有一纵向色差，和一个检测装置，其包括一个两维阵列的检测器元件，用于检测来自样品的光从所述样品，根据本发明，所述光显微镜，其特征在于，用于检测两个共焦部分...
- 申请日：2012-5-16 申请号：：DE102012009836
-
- 显微镜和显微过程
- 中文摘要：本发明涉及一种显微镜，优选的是一激光扫描显微镜，包括至少一个照明束，其中，在其局部区域沿着所述的横截面，具有一调制是相位调制频率，和包括一个显微镜物镜，用于所述的照明光束聚焦到一个样品，并进一步包括一个检测光束路径和至少一个解调装置; 其中一个脉冲存在和在所述的照明光束的照明光束路径的上游所述显微镜物镜，第一偏振光...
- 申请日：2012-5-15 申请号：：DE102012010207
-
|