产业集群信息网

  • 原子力显微镜探针扩展作业方法
  • 中文摘要:本发明公开了一种基于原子力显微镜的探针扩展作业方法。该方法以操作对象拓扑结构、操作的起始点为依据,判别任务的明确程度,并根据明确程度决策任务采用主从操作模式或扫描操作模式。在同一纳米操作系统的硬件构架下,通过修改软件算法,在主控计算机中引入规划层,在原子力显微镜控制器中引入执行层,并利用预编程的探针运动规划方法,实...
  • 申请日:2011-12-29    申请号::CN201110452683.0

  •  
  • 可提高图像拍摄质量的显微镜
  • 中文摘要:本实用新型涉及一种可提高图像拍摄质量的显微镜,包括显微镜本体、目镜、摄像机、载物台与光源入口,该显微镜本体内,所述目镜、摄像机、载物台及光源入口之间形成有相通的光路,所述目镜与摄像机之间的光路上设有控制该段光路通断的光路控制装置。本实用新型涉的可提高图像拍摄质量的显微镜,通过在目镜与摄像机之间的光路上设置光路控制装...
  • 申请日:2011-12-29    申请号::CN201120565789.7

  •  
  • 用于显微镜和近场光谱学的通过端面无量纲的装置
  • 中文摘要:主题(图1)是在其末端(3)处具有至少一个一维元件(4)的用于近场光谱学和显微镜学的中空装置。 该装置优选用于扫描探针显微镜和光谱学技术和设备中。 提出的装置(图1)的尺寸适合于与优选地在垂直于待分析表面的方向上传播的电光场耦合。 本发明的主题(图1)对于表面分析过程具有足够的鲁棒性,并且能够提供尺寸小于10nm的...
  • 申请日:2011-12-29    申请号::BRPI1107185

  •  
  • 一种用于原子力显微镜检测微孔形状时的透射照明装置
  • 中文摘要:本发明属于光学技术领域,特别涉及一种用于原子力显微镜检测微孔形状时的透射照明装置,该装置包括光源、第一聚光镜组、第一可变光阑、第二可变光阑、第二聚光镜组和光路转折镜;光源,第一聚焦镜组,第一可变光阑,第二可变光阑和第二聚焦镜组共轴放置且光轴水平,转折镜与光轴成45度夹角;第一聚光镜位于光源之后,第一可变光阑位于第一...
  • 申请日:2011-12-29    申请号::CN201110449493.3

  •  
  • 全内反射荧光显微镜色差校正系统
  • 中文摘要:描述了可结合在基于物镜的TIRF显微镜仪器中以校正色差的校正元件。 校正元件可以放置在多波长激励光束源和显微镜物镜之间。 在一个方面,所述校正元件的厚度被限定为补偿与沿着包括显微镜物镜的透镜的外边缘行进的每个激励波长相关联的焦点的不同轴向位置。 在另一个方面,校正元件可以成角度和/或配置成使得多波长激发光的不同波长...
  • 申请日:2011-12-28    申请号::US13338664

  •  
  • 总计: 14021 篇   首 页  上一页  下一页  末 页