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| - 施加到其上的带电颗粒束显微镜与衍射像差校正器
- 中文摘要：一衍射像差校正装置被配置成具有一结构的一个校正器包括一螺线管线圈的多极环，和一个功能的调整所述向量电势的正交性和轴向偏差的程度与相对于一光束轴，所述的操作原理的基础上衍射像差校正，其控制所述相位的一个电子使用所述aharonov束-bohm效果。所述衍射像差校正器被施加到带电颗粒束显微镜，通过安装所述衍射像差校正装...
- 申请日：2011-12-26 申请号：：WOJP11007244
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- 参考件用于校正，用于制造相同的过程，和使用相同的扫描电子显微镜
- 中文摘要：本发明提供一参考件，其具有，所述相同的平面上，横截面的一种多层膜包括交替地叠加不同的材料，多个的第一标记图案，其具有被设置平行于所述的多层薄膜的横截面通过一个第一硅层，至少一对的第二标记图案，其具有被设置在所述反向侧的所述多层薄膜的横截面从第一标记图案和平行于所述的多层薄膜的横截面通过一个第二硅层，其被厚度大于第一...
- 申请日：2011-12-26 申请号：：WOJP11007245
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- [planapokhromaticheskiy]高(Ly)-孔径显微镜物镜
- 中文摘要：使用 : 在所述区的显微用于所述视觉观察和拍摄低对比度的显微结构，其是位于超过所述前所述光显微镜的分辨率的限制所述自然光，所述可见发光的光中，前所述通过该亮-偏振的光场的照明，暗领域，相对比度和otherstask : 一种改进的单中和色像差轴向和额外的轴光束，并且还增加在所述入口孔。香精 : 所述[planapo...
- 申请日：2011-12-26 申请号：：RU2011153326
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- 透射电子显微镜和操作透射电子显微镜方法
- 中文摘要：一种透射电子显微镜，包括 : 高压源，用于在两个高压输出端输出高压并在控制器输出端输出控制信号； 聚焦光束的聚焦透镜； 单色仪，其仅允许粒子束中动能在可调节能量间隔内的那些粒子通过； 能量色散成分，其以不同方式偏转不同动能的粒子； 探测器； 以及连接到控制器输出端的控制器，该控制器输出端根据控制信号控制布置在能量色...
- 申请日：2011-12-23 申请号：：US13337033
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- 扫描电子显微镜和测量的误差校正方法，其
- 中文摘要：本发明涉及电子扫描显微镜涉及，检测所发射的电子照射的测试感测所述目标中的电子扫描显微镜观察，检测测试样品中所述的电子通过照射一电子枪，从而它是释放，其是加载与样品样品保持部，位于外侧显微镜的扫描电子显微镜在根据与一个操作的操作部具有一水平凹槽样品保持该滑动运动所述右-上和左方向或一个致动器，用于驱动一个，所述的电子...
- 申请日：2011-12-22 申请号：：KR1020110140390
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