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  • 光学显微镜检查方法和用光学显微镜进行该方法试剂盒
  • 中文摘要:本发明公开了一种试剂盒,其包括至少一个用于按压通过光学显微镜观察到的物质的按压器和在观察物质的同时使用该按压器按压该物质的方法。 压力机包括一个支撑在显微镜物镜和放置在显微镜载物台上的样品之间并相对于显微镜物镜独立运动的杵。
  • 申请日:2011-12-21    申请号::US13333259

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  • 原子力显微镜样品变温装置
  • 中文摘要:本发明涉及一种简单的原子力显微镜样品变温装置。它包括一块隔热板和一个恒温块;所述隔热板置于原子力显微镜的样品台上,所述恒温块置于所述隔热板上并固定于原子力显微镜的样品台上,样品直接置于所述恒温块上;所述恒温块为导热金属材料制成。本发明可改变所载的样品的温度,能方便快速地进行不同温度下样品表面结构及性质测试。整套装置...
  • 申请日:2011-12-21    申请号::CN201110431293.5

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  • 原子力显微镜中扫描速度的动态控制方法及其系统
  • 中文摘要:
  • 申请日:2011-12-20    申请号::PL39747711

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  • 原子力显微镜探针,用于制备相同的方法,和使用其
  • 中文摘要:本发明涉及一种原子力显微镜探针,其包括 : (i)提供一种压电谐振器与两个电极和涂覆有一绝缘层; 和(ii)尖端附着到所述涂覆谐振器和通过至少一个分组或分子的官能化感兴趣的。本发明还涉及所述用于制备相同的方法和以所述各种用途。
  • 申请日:2011-12-20    申请号::WOEP11073466

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  • 制备的方法和测量所述大尺寸物体的表面通过所述扫描探针显微镜
  • 中文摘要:1。制备所述的方法和测量所述大尺寸物体的表面通过所述扫描探针显微镜,其包括整形测量表面的机械,使其特征在于,所述的事实,另外是形成所述调节区,在通过其为建立的扫描探针[mikroskop]。2。所述的方法制备大尺寸和测量所述的表面上的对象通过所述扫描探针显微镜[P]。1,其特征是由所述的事实所述调节通过装置的区域是...
  • 申请日:2011-12-19    申请号::RU2011151464

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