|
| - 光学成像控制原子力显微镜
- 中文摘要：一种用于光学控制原子力显微镜(AFM)的方法，包括使用光学成像装置获取样品的光学图像，使用光学图像识别样品上的感兴趣特征，使用AFM成像装置获取样品的高分辨率AFM图像，AFM成像装置包括具有尖端的悬臂，在感兴趣特征处用光学图像覆盖AFM图像，以及使用光学图像将探针尖端定位在感兴趣特征上。
- 申请日：2011-9-30 申请号：：US13249654
-
- 浸没显微镜物镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种浸没式显微镜物镜具有高光学性能来观察明亮地从一个一个样品的表面到深部。溶液 : 一种浸没式显微镜物镜透镜1包括，从物体侧顺序中，一个第一透镜组G1具有一个正折射光焦度，以会聚光束从一个对象，一个第二透镜组G2)，其具有一个下折射光焦度比第一透镜组G1，和一个第三透镜组G3，和满足条件表达...
- 申请日：2011-9-30 申请号：：JP2011217461
-
- 用原子力显微镜提供样品的形貌信号
- 中文摘要：公开了一种用于确定样品表面形貌的原子力显微镜(AFM)设备。 所述AFM装置包括 : 控制器，具有控制器频率响应，并被配置为提供控制器输出信号。 该控制器包括提供积分器输出信号的积分器和滤波器块。 该AFM装置还包括具有物理系统响应的物理系统，该物理系统被配置成接收控制器输出信号并响应于控制器输出信号提供探针高度。...
- 申请日：2011-9-30 申请号：：US13249890
-
- 用于显微镜校准目标的成像
- 中文摘要：本发明是涉及光学显微镜校准装置，其可以被用于与光学显微镜，以调节该显微镜成像参数，从而使图像的样本可以获得下面所述衍射极限。该显微镜校准装置包括至少一个校准目标。每个校准目标包括一个与尺寸特征的数量低于所述一个显微镜物镜的衍射极限。一个单独的颜色分量的衍射限制的图像获得的所述校准目标被用于一个特定的放大率。所述的彩...
- 申请日：2011-9-29 申请号：：WOUS11053818
-
- 显微镜成像校准靶
- 中文摘要：本发明涉及光学显微镜校准装置，其可与光学显微镜一起使用以调整显微镜成像参数，从而可获得低于衍射极限的样品图像。 显微镜校准装置包括至少一个校准目标。 每个校准目标包括尺寸低于显微镜物镜衍射极限的多个特征。 对于特定放大率，获得校准目标之一的单独颜色分量衍射限制图像。 可以组合彩色分量图像并对其进行图像处理，以获得校...
- 申请日：2011-9-29 申请号：：US13876515
-
|