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| - micropalanca用于这种microhandle的原子力显微镜和显微镜，其包括
- 中文摘要：micropalanca用于这种microhandle的原子力显微镜和显微镜，其结合。本发明由一microhandle的适合于用于其结合到一种原子力显微镜(20)。所述microhandle拥有一个较小的板(1)，其包括相对的昂贵的专业footpaths(2)，和第一相对的面(3)和第二更小的面(4)相对的被一个的...
- 申请日：2011-8-2 申请号：：ES201131344
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- -液中的装置，用于测量电位，和原子力显微镜
- 中文摘要：为了提供一种装置用于测量液中的电势，其可以一种液体中的测量表面电位，该装置(200)-液中用于测量电位被提供有 : 一悬臂(204)具有一探针在所述自由端; 一位移测量单元(206)，其输出一电压，其被映射到一个所述的端部的位移该悬臂(204); 一个交变电流电源(201)施加一个交变电流所述探针和样品之间的电压;...
- 申请日：2011-7-29 申请号：：WOJP11004325
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- 包括紧密耦合闪烁体-光电倍增管组合的电子检测器以及使用该电子检测器的电子显微镜和X射线检测器
- 中文摘要：一种带电粒子束装置，包括 : 被构造成产生电子束的电子源，所述电子源耦合到电子柱，所述电子柱至少部分地容纳被构造成将所述电子束引向定位在与所述电子柱耦合的样品室中的样品的系统；以及电子检测器。所述电子源被构造成产生电子束，所述电子柱至少部分地容纳被构造成将所述电子束引向定位在与所述电子柱耦合的样品室中的样品的系统。...
- 申请日：2011-7-29 申请号：：US13194611
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- 电子检测器包括一个紧密耦合的闪烁器-光电倍增管的组合，和电子显微镜和X-射线检测器使用相同
- 中文摘要：一种带电粒子束的装置包括一个电子源结构化，以产生一个电子束，所述的电子源被耦合以一种电子柱，其至少部分地容纳一个系统结构化，以直接该电子束向一标本位于样品室中以其所述的电子柱被耦合，和一个电子检测器。所述电子检测器包括一个或多个组件位于所述的电子柱内或所述样品室，每个该组件包括一个SiPM和一闪烁器直接连接面-到-...
- 申请日：2011-7-29 申请号：：WOUS11045988
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- 用于纳米尺度测量原子力显微镜系统和方法
- 中文摘要：一种原子力显微镜(AFM)系统，能够在纳米级水平上成像样品材料的多种物理性质。 该系统提供了一种使用放置在样品下面的电磁线圈来成像物理性质的装置和方法。 线圈的激励在样品中产生电流，该电流可用于对样品的形貌、样品的物理性质或两者进行成像。
- 申请日：2011-7-29 申请号：：US13194422
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