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| - 显微镜系统
- 中文摘要：要解决的问题 : 以独立地调整显示倍率和焦点深度。溶液 : 所述的显微镜系统1包括 : 一种观察光学系统2包括一物镜透镜9和配置，使得所述物镜的数值孔径9和一个与每个其它成像倍率变化，从而联锁; 一个成像部分3设置在所述观测光学系统成像的表面2和配置成照片一个图像的一对象的一个; 一种图像处理部4被配置以执行一乘以...
- 申请日：2011-6-23 申请号：：JP2011139781
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- 近场光学显微镜、近场光学探针及样品观察方法
- 中文摘要：提供了一种扫描近场光学显微镜，能够以高灵敏度的方式获得具有高于对应于照射光的波长的空间频率的空间频率的光学信息。 根据本发明的扫描近场光学显微镜100包括 : 光照射部分102，用于向样品107发射照明光； 光接收部分112，用于接收光； 微结构，用于产生或选择性地透射近场光，所述微结构设置在光照射部分102的发射...
- 申请日：2011-6-23 申请号：：US13167172
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- 光源装置，光源单元，和显微镜系统
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一光源装置，其能够同时观察样品的通过使用一种多个用于所述激发波长的激发波长和在扩展性优良，和以提供一光源单元和一种显微镜系统。溶液 : 一光源单元1b包括光源装置20，30和40发射的光束的波长被从每个其它分别不同的和被连接到一个显微镜(1a)观察样品S，以供给所述光从每个其它光束的波长是不...
- 申请日：2011-6-22 申请号：：JP2011138846
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- 用于透射电镜的原位力、电性能单轴拉伸样品杆
- 中文摘要：用于透射电镜的原位力、电性能单轴拉伸样品杆，属于透射电子显微镜配件及纳米材料原位测量研究领域。现有技术虽可以实现材料变形过程中应力信号的读取，但是对样品的要求比较苛刻，只能是纳米线或是纳米管等一维纳米材料或者是通过聚焦离子束切割所制作的样品，且也无法实现应力状态下电学性能的测量。该样品杆包括自设计透射电镜样品杆，变...
- 申请日：2011-6-22 申请号：：CN201110169007.2
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- 程序和光显微镜的机构，用于所述图形表示一个样品
- 中文摘要：一序列的各个图像是由成像所获得的样品通过成像光学系统到图像传感器。用于所述获取的每个单独的图像，该样品是提供与一个标记图案，在其各个标记可以成像在所形成的空间分离的光分布通过所述成像到所述图像传感器。所述的光分布被确定的所述的质心位置和所述样品的叠加以形成一个完整的图像。根据本发明，一种图像漂移-诱导的温度值(ΔT...
- 申请日：2011-6-22 申请号：：DE102011051278
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