物镜系统和电子显微镜 中文摘要：本发明提供一种样品的观察物镜系统和电子显微镜可利用电子束加速到一个超高电压状态，即使不使用直接电流超-高电压源，一个直流加速器管或多电磁透镜用于超-高电压。一种微波加速器(3)含有微波腔是设置在所述一对物镜的透镜的注射侧由电磁透镜(前置物镜电磁透镜的(2a)，后物镜电磁透镜(2b))，和一个微波减速器(4)含有微波... 申请日：2011-5-11    申请号：：WOJP11060855   扫描显微镜 中文摘要： 要解决的问题 : 本发明提供一种最佳的观察方法在较短的时间，不需要用于各种条件的时间和精力。 溶液 : 本发明的扫描型显微镜(100)包括 : 扫描部(23)进行扫描的激光束；切换机构(27)具有多个安装位置，其激发剂DM0.526，用于反射激光器光束沿主扫描方向扫描部(23)被安装；光检测器检测63a返... 申请日：2011-5-11    申请号：：JP2011106500   扫描电子显微镜 中文摘要：本发明公开了一种扫描电子显微镜，其抑制一个样品引起的漂移到所述的操作驱动电机用于一个样品台，或所述室中的温度变化。所述电流供给到所述一种样品移动时是相同的电机到所述电流供给到所述电机当所述样品停止，或所述的电流之间的差是20%或更小。因此，该变化在所述电动机是减少热量的量，和当所述样品漂移是降低所述样品被观察到。 申请日：2011-5-11    申请号：：WOJP11002605   一种透射电子显微镜分析样品的方法 中文摘要：本发明提供的多个探测器(334, 426；340, 420, 502, 826，702)，其检测已经通过样品的电子。所述检测器优选地检测出电子后已经通过棱镜(322, 412)，其将根据电子它们的能源。电子在不同能量范围的不同探测器进行检测，优选至少一个(334, 426)与所述电子检测器测量所损耗的能量，它们通过... 申请日：2011-5-10    申请号：：JP2011105205   用于标记中有缺陷的半导体芯片的半导体晶片的方法利用在光-光显微镜，包括拉针形支架从非标记剂的液体部分... 中文摘要：一个过程和描述了一种装置，其用于控制研究之后的所述标记用于故障识别的半导体芯片在该盘具有一个光-光显微镜的帮助联盟。所述缺陷的地方是保证容易重新获取由该标记用于该目的的该调查的溶解性高，elektronenund离子束的分析方法的装置，而不影响所述缺陷的地方。 申请日：2011-5-10    申请号：：DE102011100984   总计： 14021 篇   首 页  上一页  下一页  末 页