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| - 使用一个或多个菲涅耳波带片的扫描显微镜的方法和设备
- 中文摘要：其中一个或多个微制造光学元件(例如，一个或多个菲涅耳波带板)作为一个或一个物镜阵列操作的显微镜方法和设备。 可以并行地扫描单个对象或多个对象。 单个低数值孔径中继光学器件可以与一个或多个光学元件一起使用，从而消除了对一个或多个共焦针孔孔径的需要。 当使用光学元件阵列时，可以在二维成像设备(例如CCD阵列)上同时成像...
- 申请日：2010-5-7 申请号：：US13319123
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- 使用光学显微镜和粒子束显微镜的序列对对象进行显微检查
- 中文摘要：为了使用光学显微镜(10)和粒子束显微镜(12)的组合对对象(8)进行显微检查，使用了一种显微镜载物片系统(1)，该系统包括：导电支架(2)，其中至少一个窗口(3、17、18)配置于支架(2)中，以及其中支架(2)优选地具有用于光学显微镜(10)的标准玻璃显微镜载物片的尺度；显微镜载物片元件(7、19)，其设计成承...
- 申请日：2010-5-7 申请号：：CN201080020680.3
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- 扫描电子显微镜和样品使用扫描电子显微镜检查方法
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种扫描电子显微镜或一个样品使用扫描电子显微镜检查方法它是在一个元件的可靠性高的频谱一种通过装置的样品或它们的量化的精度通过调节一个系统的峰值抑制一个电子的散射量在物镜光阑来控制电子其偏离主电子束照射的轨迹和被超出的分析点。溶液 : 本发明中，一束直径被定义为使得一个系统的峰值强度被抑制，其...
- 申请日：2010-5-7 申请号：：JP2010107340
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- 显微镜具有圆形模式中的原子功能力，测量装置允许SA的实现和过程
- 中文摘要：本发明涉及处理用于所述的上表面的修改和处理用于所述测量的粘合力和不同的力的相互作用(摩擦的力，通过扫描探针显微术中起作用的粘合力)连续<<曲线>>模式，以及作为以一个扫描探针显微镜和所述处理装置允许所述的实现。
- 申请日：2010-5-7 申请号：：FR10053610
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- 在原子力显微镜光学系统
- 中文摘要：
- 申请日：2010-5-6 申请号：：PL39115210
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