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| - 用于并行系统体视显微镜的物镜系统
- 中文摘要：要解决的问题 : 提供一种体视显微镜的物镜系统用于一平行的系统，该透镜系统，其允许实现良好的聚焦性能通过抑制到一程度实际上无失真像差的问题，以安全的平整度，在一个图像平面并通过适当地校正其它各种像差。溶液 : 所述物镜系统用于一LOB体视显微镜的平行系统包括 : 一第一胶合透镜组G1)包括一个透镜b1，其中所述组件...
- 申请日：2010-4-13 申请号：：JP2010092553
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- 模型化临界尺寸扫描电子显微镜抽取的方法
- 中文摘要：本发明之一实施例有关在光微影术处理模型校准期间模型化临界尺寸(CD)扫描电子显微镜(CD-SEM)抽取的方法。在操作期间, 该方法接收使用CD-SEM抽取处理所获得的CD値, 其中该CD-SEM抽取处理藉由沿着多重电子束扫描来测量特徵的多重CD値, 以决定用於该特徵之测量的CD値。然後, 该方法决定模拟的CD値, ...
- 申请日：2010-4-13 申请号：：TW099111435
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- 一种基于扫描电镜的纳米压痕系统
- 中文摘要：基于扫描电镜的纳米压痕仪属于低维纳米材料应力状态下综合性能测试领域，其特征在于包括底座和样品基座，压痕头支持座，在样品基座上加装一套角度调节器，一套三轴位移粗调装置和一套三轴微位移器，用以将样品移动到压痕头针尖2-100μm之间，并使样品正对压痕头，利用压痕头的微位移器实现压痕操作，通过压痕头内部的应变片和压敏电阻...
- 申请日：2010-4-9 申请号：：CN201010142310.9
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- 显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一显微镜能够获得一个优良的样品的观察图像的，即使当一透镜一种培养溶液中发生的效果观察该样品培养容器中。溶液 : 一用于观察显微镜1的样品2中一个观察对象与所述样品2浸泡在一种培养容器10内的培养液11含有该样品2和一培养溶液11培养所述样品2，一种显微镜，包括一照明光学系统4，其具有一光源2...
- 申请日：2010-4-9 申请号：：JP2010090646
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- 一种基于扫描电镜的纳米压痕系统
- 中文摘要：基于扫描电镜的纳米压痕仪属于低维纳米材料应力状态下综合性能测试领域，其特征在于包括底座和样品基座，压痕头支持座，在样品基座上加装一套角度调节器，一套三轴位移粗调装置和一套三轴微位移器，用以将样品移动到压痕头针尖2-100μm之间，并使样品正对压痕头，利用压痕头的微位移器实现压痕操作，通过压痕头内部的应变片和压敏电阻...
- 申请日：2010-4-9 申请号：：CN201020153427.2
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