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| - 透射电镜用力电性能与显微结构测量的传感器及制作方法
- 中文摘要：本发明涉及一种透射电镜用力电性能与显微结构的传感器及制作方法，特征在于：传感器由悬空结构、压敏电阻悬臂梁、支撑梁、双金属片等组成。当双金属片产生弯曲变形时，弯曲或压缩低维纳米材料，低维纳米材料再推动压敏电阻悬臂梁产生弯曲变形。通过惠斯通电桥输出电信号的变化，来获取低维纳米材料所受应力的大小。同时，通过透射电镜中高分...
- 申请日：2009-10-30 申请号：：CN200910209565.X
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- 中间透镜筒，透镜筒，和显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一个中间透镜筒，其根据一个观众眼睛点调整的需求例如观看者的体格，观察位置，和所述观看者的疲劳程度。溶液 : 所述中间透镜筒装置2之间是可拆卸地安装一个显微镜体和一个透镜镜筒，反射发光磁通进入从一物镜安装到所述显微镜体，和使所述磁通进入所述透镜镜筒。所述中间透镜筒，包括 : 一固定部分3安装到...
- 申请日：2009-10-30 申请号：：JP2009250771
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- 一种透射电镜用力电性能与显微结构测量的传感器
- 中文摘要：本实用新型涉及透射电镜用力电性能与显微结构的传感器。本实用新型为一个中空的结构，该结构自下而上由阻挡层、硅衬底、外延层α和绝缘层组成；该结构中间部分的阻挡层和部分硅衬底被刻蚀，剩余的周边部分包括阻挡层、硅衬底、外延层α和绝缘层四层，称为基础部分；中间部分继续被刻蚀穿形成压敏电阻悬臂梁和悬空结构；传感器的基础部分上放...
- 申请日：2009-10-30 申请号：：CN200920220390.8
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- 图案尺寸测量方法和使用相同的扫描电子显微镜
- 中文摘要：本发明提供一种技术进行更高度准确的半导体检查通过检测图案的边缘不贡献作为一掩模在一蚀刻步骤和测量一个图案，而不包括这种边缘在所述计算的时间尺寸。由于具有一个突出形状的图案部分是被蚀刻去除在所述的时间，一扫描电子显微镜获取的图像是使得所述突出的边缘不起作用的作为一掩模是以被排除在所述计算的时间图案检查中的尺寸。然后，...
- 申请日：2009-10-28 申请号：：WOJP09005695
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- 多功能显微镜
- 中文摘要：本发明提供了一种具有多种光源的多功能显微镜，所述光源由多种材料制成。 多个光源使得在单个显微镜下观察固体物体和载玻片样品成为可能。 还配备了无绳电源，为显微镜的便携性提供了方便的野外研究。 除了便携性，低制造成本使显微镜适合任何预算，甚至儿童和青少年的玩具，学习科学的幼年时期。 多个角度可调的光源提供了进一步的研究...
- 申请日：2009-10-28 申请号：：US12607717
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