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| - Mirau型干扰物镜和显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种Mirau型干扰物镜，其获得一个希望的干扰条纹，而不使用一个倾斜阶段。溶液 : 所述干扰物镜透镜包括 : 一个物镜系统的光会聚到所述试样表面，用于照明所述试样表面; 所述样品表面之间设置一个光路分离装置和所述物镜系统和被配置为分体式从所述物镜系统所发出的光为光的光线，反映一个射线的光在一...
- 申请日：2009-10-13 申请号：：JP2009236473
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- 制备透射电子显微镜用样品的方法和装置
- 中文摘要：在用于制备透射电子显微镜用样品的方法的情况下，从样品材料的基底制备样品。 为此，利用激光束沿着照射轨迹照射样品材料，以便在样品材料中产生弱路径。 控制所述照射，使得所述弱路径在交叉区域中以锐角穿过另一弱路径，所述另一弱路径同样优选地通过在样品材料中运行的激光照射而产生。 基板沿着弱路径断裂。 由此制备了一种样品，其...
- 申请日：2009-10-9 申请号：：US12576777
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- 显微镜系统
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一显微镜系统能够提高聚焦精度的和还加速的处理速度获取一个图像观察的主体。溶液 : 所述的显微镜系统包括 : 一个自动聚焦控制装置21调整物镜12聚焦的位置; 通过使用一图像拾取的一第二的成像装置20这侧上的一个区域的图像通过一个成像区域第一的成像装置15，在这样的一个区域第一的成像位置处成像...
- 申请日：2009-10-7 申请号：：JP2009233775
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- 装置，用于检测二次电子，和扫描电子显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 提供一种廉价的和节省空间的扫描电子显微镜具有宽视场，高分辨率; 高的效率检测，和均匀的检测效率。溶液 : 该扫描电子显微镜200具有 : 一目标290相对于其通过照射电子束产生的二次电子以样品6中设置一个电磁的复合物镜210发生碰撞; 排斥电极250，它具有一个负电位和排斥所述二次电子经由所述目标...
- 申请日：2009-10-7 申请号：：JP2009233470
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- 加速的浮雕表面的测量方法用于所述扫描探针显微镜
- 中文摘要：1。浮雕和表面特性的测量所述的方法，用于所述扫描探针显微镜，其中所述扫描之前被所述方向之前完成，所述预定轨迹上平行于所述模型的表面，给定它们记录与所述直或反向通道，和用于所述形成控制垂直所述值信号的位移，利用所述山体内的驱动信号; 该上取的先前的扫描线，其特征是由所述的事实仍然是用于所述的山体内该不一致的所述误差信...
- 申请日：2009-10-7 申请号：：RU2009136929
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