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| - 扫描探针显微镜和相同的操作所述的方法
- 中文摘要：要解决的问题 : 以评估所述所述光接收表面上反射的光点尺寸的一个光检测器在所述相同的时间与所述调整所述位置和所述聚焦光点的聚焦条件的光的照射所述的后一个悬臂在一个扫描探针显微镜。溶液 : 所述扫描探针显微镜包括该悬臂3具有一探头3a，一光源1用于施加一个光束10到该悬臂3所述的背面，所述光电检测器2用于检测反射的光...
- 申请日：2009-2-16 申请号：：JP2009032404
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- 显微镜和用于显微镜的图像获取方法
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一显微镜和一种图像获取方法获取一个Z叠层具有更少的图像模糊，即使当发生振动或等获取所述Z堆图像。溶液 : 一种预定的电气信号是周期性地和累积添加到一个控制信号用于自动聚焦控制，以改变一物镜之间的聚焦位置和一个待检查表面的一样品以一预定间隔在一个光学轴方向，和所述物镜透镜或一阶段中的一种变化是...
- 申请日：2009-2-16 申请号：：JP2009033082
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- 非接触扫描探针显微镜
- 中文摘要：一个样品(13)被放置在样品台(11)，第一探头(14)被设置在所述前表面所述样品级和一个第二的探针(15)被设置在所述后表面的所述样品级。一个在一个频率相同的交变电流信号作为所述的机械谐振频率的一悬臂，I。E。，第二探头(15)，与一个幅度被施加几伏到第一的探针(14)从一个FM检测模块(18)，一个信号，其具有...
- 申请日：2009-2-16 申请号：：WOJP09000591
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- 用于自动调节所施加的力的方法和控制所述力的一种原子力显微镜中的漂移在接触模式成像。
- 中文摘要：本发明涉及一种方法，装置和计算机程序用于自动补偿漂移的一个力施加通过原子力显微镜在接触模式。所述的方法使它能够自动地控制和正确的力接触模式中的原子力显微术漂移。在一个优选实施例中，本发明包括步骤 : 独立地测量横向和垂直振动信号，分析这些信号和最后将这些信号到基准振动信号。一第二实施例中，所述振动通过装置的一个索引...
- 申请日：2009-2-16 申请号：：EP09305150
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- 多功能扫描探针显微镜
- 中文摘要：该显微镜具有一个初步的方法块(3)movablely放置在一底座(1)，一个piezoscanner(4)放置在所述块，和一个对象-载体(5)放置在所述piezoscanner。一个样品(6)包括一个测量区(M)和固定在所述piezoscanner使用所述对象的载体。一板(9)被固定在所述基座抵靠所述样品，和一个分...
- 申请日：2009-2-13 申请号：：EP09152876
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