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| - 自动对焦及取像系统及其方法、显微镜
- 中文摘要：本申请提供一种显微镜的自动对焦及取像系统，包含一焦距调整模块，具有一光学模块用以将第一光源发出的光线转换成直线光束，该直线光束经由第一光学组件传递至待测物的对焦平面，该待测物沿着XY方向设置，及第二光学组件将从该对焦平面反射的该直线光束传递至第一传感器并取得对焦影像，运算单元根据该对焦影像的位置数值控制一置动器调整...
- 申请日：2022-2-25 申请号：：CN202210180446.1
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- 显微镜物镜，显微镜光学系统和显微镜装置
- 中文摘要：一种显微镜物镜(OL)，包括具有正折射能力的第一透镜组(G1)， 具有面向像侧的凹面的第二透镜组(G2)和具有面向物侧的凹面的第三透镜组(G3)沿光轴从物侧依次排列。 第一透镜组(G1)包括一个具有正屈折力的透镜组件， 第三透镜组(G3)包括三个或更多个透镜，包括两个负透镜和一个正透镜， 并且两个负透镜中的至少一个...
- 申请日：2022-2-25 申请号：：WOJP22007908
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- 自动对焦及取像系统、显微镜
- 中文摘要：本申请提供一种显微镜的自动对焦及取像系统，包含一焦距调整模块，具有一光学模块用以将第一光源发出的光线转换成直线光束，该直线光束经由第一光学组件传递至待测物的对焦平面，该待测物沿着XY方向设置，及第二光学组件将从该对焦平面反射的该直线光束传递至第一传感器并取得对焦影像，运算单元根据该对焦影像的位置数值控制一置动器调整...
- 申请日：2022-2-25 申请号：：CN202220396260.5
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- 用于减少样品上的粒子束诱导的痕迹的多束粒子显微镜
- 中文摘要：本发明涉及一种用于减少施加有高电压的样品上的粒子束引起的痕迹的多束粒子显微镜。 通过使用特殊的物镜电缆和/或特殊的样品台电缆来实现在样品室中出现额外的残余气体，所述特殊的物镜电缆和/或特殊的样品台电缆被特殊屏蔽。
- 申请日：2022-2-25 申请号：：DE102022104535
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- 扫描电镜标本的处理方法
- 中文摘要：提供了一种扫描电镜标本的处理方法。 所述方法包括：提供待观察标本； 提供包括多个碳纳米管的碳纳米管阵列； 以及从所述碳纳米管阵列上拉取碳纳米管薄膜，并将所述碳纳米管薄膜铺设在所述样品的表面上，其中，所述碳纳米管薄膜包括多个通孔。
- 申请日：2022-2-24 申请号：：US17679646
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