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| - 扫描成像的样品的显微镜和方法。
- 中文摘要：本发明涉及一种与一扫描显微镜成像一个样品的方法和一种成像系统用于一扫描显微镜，包括所述的步骤 : 发起一个曝光的相位检测器(34)由一脉冲激光源(12); 产生该样品在所述的光学图像检测器与一透镜系统(32); 和-终止所述曝光的相位。根据本发明，所述产生所述的光学图像的步骤包括一个移动所述的光学图像的步骤在所述检...
- 申请日：2008-12-18 申请号：：WOIB08055411
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- 用于光学应用的保护金属尖端或金属化扫描探针显微镜尖端
- 中文摘要：本发明一般涉及用于无孔径近场光学应用的受保护的金属或金属化扫描探针显微镜尖端，其包括金属尖端或覆盖扫描探针显微镜尖端的金属结构，由超薄介电层保护。 在一个实施例中，保护层由SiOx，Al2O3或任何其它通过对整个结构提供机械，化学和热保护而延长尖端寿命的硬质超薄介电层组成。
- 申请日：2008-12-18 申请号：：US12809720
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- 扫描探针显微镜观察的样品和方法使用该相同
- 中文摘要：所述的光学数据和所述的表面上的峰-谷数据一被测样品在一种纳米-阶的分辨率和一高再现性，同时损坏既没有结合一种纳米探针的NOR所述样品阶圆柱形结构具有一纳米阶微结构以形成一等离子体增强近场探针具有一纳米阶的光学分辨率和重复地移动它靠近和离开从每个所述样品上测量点在一个低的接触力。
- 申请日：2008-12-18 申请号：：WOJP08073074
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- 扫描探针显微镜与电流控制的致动器
- 中文摘要：所述压电致动器(1)振荡所述一个扫描探针显微镜的探针是设置在所述反馈支路(3)。一个模拟放大器(4)的。一电流源(10)被提供用于进给一个定义的交变电流到所述输入的所述放大器(4)。所述放大器(4)努力以调整该电压在所述致动器(1)，使得该电流从所述电流源(10)流过所述致动器(1)。作为该电流通过所述致动器(1)...
- 申请日：2008-12-17 申请号：：WOCH08000538
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- 用于扫描显微镜多探针模块
- 中文摘要：多探头模块，用于扫描显微镜，涉及一种扫描探针显微镜检查的面积，在特定的设备提供观察，测量及修改的物体表面。
- 申请日：2008-12-17 申请号：：UAU200814556
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