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| - 一保持器装置，用于试样在扫描elctron显微镜
- 中文摘要：
目的 : 一种扫描电子显微镜的样品架装置被提供以提高该耐久性的扫描电子由于污染物显微镜，其不产生污染样品和一室和以减少操作时间，以通过简单地保持多个样品的分析样品。<\/P> 构成 : 一种扫描电子显微镜的样品架装置包括 : 一保持器支撑部件(10)，其被安装在所述样品的上部分保持器级的扫描电子显微镜和突... - 申请日：2008-10-28 申请号：：KR1020080106062
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- 用于光显微镜的照明装置和具有该照明装置的光显微镜
- 中文摘要：一种用于具有物镜的光显微镜，特别是用于体视显微镜的照明装置，用于照明光显微镜的物平面。 所述照明装置的照明光束路径由光源，场光阑，具有至少一个照明透镜的照明光学器件和至少一个偏转元件限定。 利用入射照明倾斜地照明显微镜的物平面，其中照明光束路径的轴与物镜的光轴形成大于0°的角度。 场膜片， 所述照明光学器件和所述偏...
- 申请日：2008-10-28 申请号：：US12259646
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- 一保持器装置，用于试样在扫描elctron显微镜
- 中文摘要：
目的 : 一种扫描电子显微镜的样品架装置被提供以提高该耐久性的扫描电子由于污染物显微镜，其不产生污染样品和一室和以减少操作时间，以通过保持所述样品分析样品。<\/P> 构成 : 一种扫描电子显微镜的样品架装置包括 : 一保持器支撑部件(10)，其被安装在所述样品的上部分保持器级的扫描电子显微镜和被所述样品... - 申请日：2008-10-28 申请号：：KR1020080106063
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- 透射电子显微镜样品处理方法
- 中文摘要：一种用于分析用于制造集成电路(例如，动态随机存取存储器件，通常称为DRAM)的样本的方法。 该方法还提供包括厚度、宽度和长度的集成芯片。 在特定实施例中，集成芯片具有穿过厚度的一部分的至少一个细长结构，同时垂直于宽度和长度。 在特定实施例中，细长结构具有结构宽度和延伸通过厚度的垂直部分的结构长度。 该方法包括以垂直...
- 申请日：2008-10-27 申请号：：US12258965
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- 显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 提供一种显微镜，其防止了在一个传输图像的亮度变化，即使当所述一荧光图像的亮度被调整。溶液 : 所述显微镜包括 : 一激励光源2发射激发光; 一种照明光学系统3与激励光照射一样品，从所述激励光源2; 一荧光检测光学系统4，它检测从所述样品发出荧光; 一个发送-光检测光学系统5检测激励光通过所述样品;...
- 申请日：2008-10-27 申请号：：JP2008275955
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