使用一种装置用于测量所述正常的晶粒边界在一个传输电子显微镜测角仪和所述的方法用于测量所述正常的晶粒边... 中文摘要： 目的 : 一种晶粒边界中的正常矢量及其测量装置和方法的正常矢量的测量系统一晶粒边界利用一个传输电子显微镜所述的测角仪用于该晶粒边界被紧密地检查所述的性能提供给所述小误差测量所述晶粒边界处的正常矢量范围内。<\/P> 构成 : 一安装一传输电子显微镜测角仪。一个第一测量单元解释所述倾斜轴的关系的一种晶体轴(... 申请日：2008-7-29    申请号：：KR1020080073829   电子显微镜，特别是电子背散射衍射过程中，用于使用扫描电子显微镜，包括非破坏性测定单元，用于非破坏性的... 中文摘要：本发明涉及一种电子-电子的显微镜与一源光束和一个机构，用于非破坏性的确定晶体一个样品的结构，其中该机构具有一个传感器设备与图像传感器和一个层的照射用于确定晶体材料结构，其中所述图像传感器被设置在所述的表面(20)和发送与所述通过所述样品所反射的辐射光的影响，其是可检测通过所述图像传感器。 申请日：2008-7-28    申请号：：DE102008035165   电子显微镜I。E。扫描电子显微镜，具有光束源和后面的光学路径中设置偏转装置偏转的光束，使得光束在指定... 中文摘要：本发明涉及电子束的电子源的显微镜和机构以非破坏性的确定晶体的结构的样品，从而标记，其该机构以确定晶体的结构的偏转系统设置在所述后面所述电子束源的光线的路径; 其中所述电子束在这样的一种方式中将一指定角度所述样品中的他的命中，以及作为一个传感器设备显示出，它占用所反射的辐射通过所述样品。 申请日：2008-7-28    申请号：：DE102008035163   原子力显微镜测量固体薄膜厚度的方法 中文摘要：原子力显微镜测量固体薄膜厚度的方法，它涉及一种测量固体薄膜厚度的方法。本发明解决了现有的光学方法测膜厚存在测量范围有限、薄膜种类受限以及非光学方法存在测量误差较大的问题。方法一：将试样剪成两部分得到待测薄膜的垂直断面；将待测试样插入去离子水中，待待测薄膜漂浮于水面后，再用备用基底将其捞起；待其干燥后用原子力显微镜即... 申请日：2008-7-28    申请号：：CN200810136808.7   浸没显微镜物镜 中文摘要：要解决的问题 : 提供一种浸没式显微镜物镜，其具有一约60倍的放大率，具有一种高数值孔径，和一令人满意地从一个可见的色像差校正区域到近红外区。溶液 : 所述浸没式显微镜物镜OL包括一个第一透镜组G1具有正折射光焦度，第二具有正折射透镜组G2功率，和一个第三透镜组G3)，其具有一个负折射光焦度，其组被设置在所述的顺序... 申请日：2008-7-25    申请号：：JP2008192613   总计： 14021 篇   首 页  上一页  下一页  末 页