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| - 测量用于一种扫描探针显微镜和操作的方法，其
- 中文摘要：一种用于一种测量仪器测量探头具有一测量与其连接的尖端包括一本体和一个致动器适合于以一第一之间表现出一种力部分的所述本体的所述本体和一第二部。所述本体具有一种弹性模式的振荡其中一个的一第一部的一位移的幅度所述体相对于所述本体的一第二部是小于一位移的幅度的所述测量所测量的尖端尖相对于一静止位置。
- 申请日：2008-5-16 申请号：：EP08009133
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- 使用扫描探针显微镜检查测试样品的方法、测量系统和测量探针系统
- 中文摘要：本发明涉及使用扫描探针显微镜检查测试样品的方法和装置。 根据该方法，使用扫描探针显微镜对测试样品进行第一和第二测量，其中测量探针和另一测量探针形成在共同的测量探针插座上。 在第一次测量期间，相对于测试样品，测量探针被保持在第一测量位置，而另一个测量探针被保持在另一个非测量位置，并且使用扫描探针显微镜用测量探针检查测...
- 申请日：2008-5-16 申请号：：US12600289
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- 强度关联量子成像显微镜
- 中文摘要：一种强度关联量子成像显微镜，其特点是包括一脉冲光源，该脉冲光源发出的光束被分束器分成透射光束和反射光束，所述的透射光束方向依次是待测物体、物臂成像透镜和物臂探测器构成的物臂，所述的反射光束方向依次是虚拟平面、参考臂成像透镜和参考臂探测器构成参考臂，所述的物臂探测器和参考臂探测器分别经第一数据采集卡和第二数据采集卡接...
- 申请日：2008-5-16 申请号：：CN200820058514.2
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- 使用扫描电子显微镜观察样品的方法和系统
- 中文摘要：本发明的目的在于，在使用扫描电子显微镜观察由检查装置检测到的试样上的缺陷的情况下，缩短自动聚焦时间，提高稳定性。 基于半导体设计信息将用于自动聚焦的一个或多个区域设置在成像区域或其附近。 通过使用这样设置的区域执行自动聚焦来确定成像区域中的目标聚焦位置。 所确定的目标聚焦位置用于低倍率成像和高倍率成像。 基于半导体...
- 申请日：2008-5-16 申请号：：US12153333
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- 强度关联量子成像显微镜
- 中文摘要：一种强度关联量子成像显微镜，其特点是包括一脉冲光源，该脉冲光源发出的光束被分束器分成透射光束和反射光束，所述的透射光束方向依次是待测物体、物臂成像透镜和物臂探测器构成的物臂，所述的反射光束方向依次是虚拟平面、参考臂成像透镜和参考臂探测器构成参考臂，所述的物臂探测器和参考臂探测器分别经第一数据采集卡和第二数据采集卡接...
- 申请日：2008-5-16 申请号：：CN200810037531.2
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