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| - 非破坏性的晶片级的子表面采用近场AFM超声波显微镜检测
- 中文摘要：一种方法，和对应的装置(100)，成像子的表面特征在多个位置上的一个样品(122)包括耦合一个超声波波成一个样品在第一的横向位置。然后所述的方法测量该样品附近的超声波能量的幅度和相位与一尖端(114)的一种原子力显微镜(110)。接着，所述的方法将超声波波成一个样品在第二的横向位置和所述测量步骤被重复用于第二的横向...
- 申请日：2008-5-12 申请号：：WOUS08063462
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- 物镜镜式反射schwartzschild schwartzschild型安装的与所述物镜镜经反射的红...
- 中文摘要：要解决的问题 : 准确的数据得到具有简单的结构，同时观察可见光和红外光谱可测量反射红外显微镜物镜镜schwartzschild式的。方法 : 样品S发射的光由凹面反射镜1，靠近冷凝点，f是反射的反射镜2。在反射镜schwartzschild式光无法利用在中心轴线附近的结构，开口设置在所述的中心反射镜2可视观察单元3...
- 申请日：2008-5-12 申请号：：JP2008003030U
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- 扫描电子显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以形成一高分辨率的二次通过扫描电子图像，同时照射电子射线束从电子枪发出的通过变窄到一样品它通过一透镜，通过检测和放大的二次电子从所述样品发出的关于一种扫描电子显微镜在其时间以显示一个二次电子图像，通过有效地捕获，检测，和放大二次电子从所述样品到其负偏置电压被施加而不机械地移一个光学轴，和通过使物镜...
- 申请日：2008-5-9 申请号：：JP2008123530
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- 体视显微镜
- 中文摘要：本实用新型涉及一种体视显微镜，在壳体内部设有杠杆与光路反射单元， 杠杆与光路反射单元相互连接，光路反射单元包括转动反光镜与反光棱镜。 上壳体与下壳体之间的夹角调节范围为0°～35°，被观察物体发出的入射光线 射入物镜后经下壳体、上壳体后向外侧传播，两条入射光线夹角2α角度为 12°。本实用新型通过调节上壳体与下壳体...
- 申请日：2008-5-9 申请号：：CN200820114985.0
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- 定位装置和使用该相同的扫描探针显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一定位装置中的多个轴向方向驱动，适合用于一种扫描探针显微镜并获得高的速度测量通过防止谐振频率中的一种降低在高-中的所述轴向方向引起的速度驱动到通过组合一移动机构引起的串扰到被驱动在高的速度与一移动机构，以被驱动在低速度。溶液 : 一扫描探针显微镜使用所述定位装置具有一个单元m13，以在XY方...
- 申请日：2008-5-8 申请号：：JP2008122675
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