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  • 成像干涉显微镜
  • 中文摘要:示例性实施例提供了图像干涉显微镜(IIM)和用于图像干涉显微镜的方法。 所公开的IIM可以通过使用多个离轴照明来接近光学分辨率的线性系统极限,以访问高空间频率,同时在光学系统的低NA侧重新引入零阶参考光束的干涉。 在一些实施例中,薄物体可以垂直于光轴放置,并且频率空间限制可以扩展到大约[(1+Na)n/λ],其中N...
  • 申请日:2008-5-8    申请号::US12117334

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  • 拉曼具有优异的显微镜的信号到噪声比
  • 中文摘要:本发明涉及一种具有优异的拉曼显微镜的信号到噪声比(S\/N)。本发明包括一个图像选择装置6有选择地只通过一个期望的部分之间的真实图像RI获得的样品的由一物镜透镜5。还,本发明还包括一可变双形成装置形成一单色的光的焦点F2通过通过所述物镜透镜5在一个不同的位置从一个焦点F1所述物镜的透镜5。本发明提供了一种用户友好的...
  • 申请日:2008-5-6    申请号::WOKR08002525

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  • 的方法,装置和系统用于获取信息具有一个相关联的样品使用光学显微镜
  • 中文摘要:示例性实施例的方法,装置和系统用于获取关于一种样品信息可以被提供。例如,在一个示例性实施例中,它是可能的,以接收一个第一的电-磁辐射从一样品,其是基于第二上的电-磁辐射转发到所述样品。第一电-磁辐射可以具有第一频率和第二的电-磁辐射可以具有第二频率它是从第一不同的频率。所述第一和第二之间的差频率可以基于一内部声波所...
  • 申请日:2008-5-2    申请号::WOUS08062354

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  • 包括通过光刻和/或FIB技术图案化的层状探针材料的用于高级扫描探针显微镜的纳米探针尖端
  • 中文摘要:通过在适当的衬底上形成适当的材料层,例如含金属的材料,并图案化该材料层以获得悬臂部分和尖端部分,可以提供特定设计的纳米探针。 在一些说明性方面, 另外, 可以在沉积探针材料之前提供三维模板结构, 从而能够在光刻的基础上限定复杂的尖端部分, 其中,可选地或附加地,具有高空间分辨率的其它材料去除过程,例如FIB技术,可...
  • 申请日:2008-5-2    申请号::US12114121

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  • 扫描电子显微镜和样品观测方法。
  • 中文摘要:要解决的问题 : 以提供一种扫描电子显微镜和一个样品的观察方法可观察的样品与一导电层的制造精度的恒电位所述样品的表面上。溶液 : 该扫描电子显微镜被提供有一电子枪发射的电子束9,一个保护电极11设置该样品7和一物镜透镜4之间具有一给定范围的一个开口与一光轴线所述电子束9作为中心的用于覆盖所述样品的整个表面7a的7;...
  • 申请日:2008-5-2    申请号::JP2008120370

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