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| - 扫描探针显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以制造一个扫描探针显微镜，其s\/N是不易到后级中产生的噪声一当所产生的噪声光电二极管的所述的后级中的所述光电二极管产生的噪声是相对较大的比在一前级的所述光电二极管。溶液 : 所述扫描探针显微镜具有一个雪崩光电二极管，其功能乘以所述量的电流，一旦应用的一反向偏置电压，根据所施加电压的大小作为一个光...
- 申请日：2008-1-25 申请号：：JP2008014558
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- 全息显微镜系统和方法用于光学材料的俘获和检查
- 中文摘要：一种方法和系统用于执行三个三维全息的一个光学显微术捕获的结构。所述的方法和系统使用一个反相的光学显微镜，一个激光源，它产生一个俘获激光束。所述激光束通过物镜被聚焦到多个光的陷阱。所述的方法和系统还使用一种在成像波长的准直激光，以照亮所述结构的创建所述的光学陷阱。成像的光散射通过所述光捕获的结构形成全息图，其是通过一...
- 申请日：2008-1-25 申请号：：WOUS08052098
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- 电路分析用固体浸没显微镜的角谱剪裁
- 中文摘要：一种用于在半导体芯片中定位故障的方法和结构。 该芯片包括介电互连上的衬底。 芯片的第一电响应图像包括表示故障的点，该第一电响应图像覆盖在用于单色光的第一反射图像上，该单色光在光路中从光学显微镜通过SIL/钉进入芯片。 衬底的折射率超过电介质互连的折射率，并且等于SIL/NAIL的折射率。 芯片的第二电响应图像在光路...
- 申请日：2008-1-25 申请号：：US12020157
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- 显微镜镜筒
- 中文摘要：本发明提供一种显微镜镜筒包括集光镜(13)和偏转光学系统。所述聚光透镜发出观察用光向偏转方向光学系统。所述偏转方向光学系统包括一个第一反射面(14)，24，41，54，64)，第第二反射面(14)B，24B，42，54B，64b)，第第三反射面(14，14C‘，14C“，25B，43，54℃，75b)，第第四反射面...
- 申请日：2008-1-24 申请号：：EP08001312
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- 扫描型探针显微镜
- 中文摘要：从激光光源发出的光的部分(11)用于检测一悬臂(4)的位移是通过采取一种半透半反镜(20)和引入到一个光检测器(21)具有一种四分割光接收表面。如果所述发射光的发射方向是倾斜的一因子诸如改变在一个环境温度，一个光点位置移动所述光接收表面上的所述光检测器(21)。因此，该倾斜的量和所述倾斜方向在所述的发光可被识别的从...
- 申请日：2008-1-24 申请号：：WOJP08000078
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