悬臂模块，用于一种扫描型探针显微镜，扫描探针显微镜配备与其和悬臂支架用于一种扫描型探针显微镜 中文摘要： 要解决的问题 : 提供一种用于一种扫描型探针显微镜的悬臂模块，其防止所述的劣化该侧上的所述电部件的一扫描型探针显微镜测量时是主体，以提高耐久性使用一个执行自检测式悬臂和易于交换一个悬臂。 溶液 : 该悬臂模块40用于扫描型探针显微镜是配备有一悬臂20具有一个探头在其前端20a和配备与不只有一个位移检测装置... 申请日：2008-1-21    申请号：：JP2008010583   用于显微镜的成像装置 中文摘要：要解决的问题 : 以缩短物镜切换时的曝光控制的收敛时间，以提高可操作性。溶液 : 一个成像部分102拾取一个通过显微镜得到的样品101的观察图像，以获得一个样品图像。一控制部分108获取的安装状态信息指示一个光学部件的安装状态插入到一个该显微镜观察的光学路径101。一PC106设定一个曝光条件时，所述成像部分102... 申请日：2008-1-18    申请号：：JP2008008976   一种基于相变材料的透射电镜电学测量载网 中文摘要：本发明涉及一种透射电子显微镜样品载网，属于纳米材料测量领域。包括有支撑部分和电路部分，所述的支撑部分包括有金属环(1)，所述的电路部分包括有两个电极(2)、待测元件和相变材料非晶薄膜(5)，电极(2)与金属环(1)绝缘粘合，相变材料非晶薄膜(5)均匀分布在两电极(2)之间，相变材料薄膜(5)为非晶态，待测元件位于相... 申请日：2008-1-18    申请号：：CN200810056408.5   一种扫描电子显微镜原位电学测量装置 中文摘要：本实用新型涉及一种在扫描电子显微镜中对待测微型元件进行电学测量的装置，具体为一种扫描电子显微镜原位电学测量装置，属于纳米材料性能原位测量领域。包括有支撑部分和电路部分，所述的支撑部分为绝缘衬底(1)，所述的电路部分包括两个固定在绝缘衬底(1)上的电极(2)、待测元件(4)和相变材料非晶薄膜(5)；所述的相变材料非晶... 申请日：2008-1-18    申请号：：CN200820078605.2   测量探针I。E。悬臂，用于检查样品E中提供的方法。G。原子力显微镜，包括处理测量之前或之后，测量探针... 中文摘要：可用本发明涉及一种用于制造过程可用一测量探针(1，1a，2)用于一探针显微的调查一个样品在一探针显微镜，特别是一种光栅探针显微镜，与所述测量探针(1)，其中一个基于探针(1a)和一个形成hieran探针延伸部(2)，在展宽器机构被保持和所述测量探针(1)之前或之后测量显示出一个上工作，通过所述探针延伸的一个部分(2... 申请日：2008-1-18    申请号：：DE102008005248   总计： 14021 篇   首 页  上一页  下一页  末 页