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| - 显微镜
- 中文摘要：本发明涉及一种显微镜，全面的说明物镜(4)到所述一个样品(3)上的一检测器的说明所述样品和用于所述的照明装置(3)具有一个光片(7)在所述聚焦电平的所述说明物镜(4)，综合相干光一散热照明源(1)。与这种显微镜所述的装置覆盖besseloptik，其从用于照明所述射线的光(5)至少两个即使产生的波(6)和其甚至波(...
- 申请日：2007-12-20 申请号：：DE102007063274
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- 激光扫描共焦显微镜
- 中文摘要：从照射产生的荧光是一种检验样品的表面上的点(7)和所述荧光被收集通过一个物镜(6)。这里，由于所述物镜的倍率色差的透镜86，该荧光外出从所述物镜(6)沿一路径移从所述照射光并改变基本上为一非扫描光通过一电流表扫描器(5)。所述的荧光经二向色镜(4)和进入偏转装置(9)为2-维偏转装置不必要的波长的光被除去后，通过一...
- 申请日：2007-12-20 申请号：：WOJP07074511
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- 变刚度原子力显微镜探头
- 中文摘要：公开了一种用于AFM中的原子力显微镜(AFM)探针，更具体地，公开了一种适于测试具有微米或纳米量级尺寸的微结构的形貌和机械性能的AFM探针。 为此，根据本发明的AFM探针包括在一个轴上具有固定端和可移动端的可弹性变形的框架； AFM尖端，所述AFM尖端由所述可移动端支撑以可抵靠测试样品在所述轴的方向上移动； 以及设...
- 申请日：2007-12-20 申请号：：US11962037
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- 扫描探针显微镜及扫描方法
- 中文摘要：为了实现适应表面的形状， 通过根据表面形状的斜率设置采样间隔并根据该间隔控制触控笔，缩短了测量时间周期并提高了测量精度， 本发明提供一种扫描探针显微镜， 其中，在扫描触控笔时，将紧接在其之前的观测数据存储为历史记录，基于观测数据的形状每次设置在X或Y方向上的采样间隔，并且将触控笔扫描到连续的采样位置。
- 申请日：2007-12-20 申请号：：US11961847
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- 显微镜装置，和所述装置中使用的荧光立方体
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一显微镜装置，其可改变从一个共焦显微镜以一全-反射通过改变荧光的荧光显微镜荧光显微镜中使用的立方体。溶液 : 所述的显微镜装置1包括一照明光学系统用于照射一样品与激光光束从激光光源32和42，一种荧光检测光学系统用于检测所述从所述样品的荧光，多个荧光立方体61设置在所述的照明光学系统用于引导...
- 申请日：2007-12-20 申请号：：JP2007329046
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