|
| - 可用于凭借基于物镜的显微镜术的肌节成像的系统和方法
- 中文摘要：
- 申请日：2022-1-13 申请号：：HK42022046296.4
-
- 基于表面等离子体共振的光学显微镜
- 中文摘要：它显示了基于表面等离子体共振(SPR)的光学显微镜。 所述光学显微镜包括沿光路依次设置的激光器、入射角度调节组件、分光镜、光学显微放大物镜和等离子体共振传感芯片5，还包括图像传感器，所述入射角度调节组件包括用于将入射光转换为p偏振光的偏振片，所述激光器的入射光经过所述入射角度调节组件， 分束镜10和光学显微放大物镜...
- 申请日：2022-1-13 申请号：：NL2030544
-
- 扫描显微镜单元，扫描显微镜以及扫描显微镜单元的校准方法
- 中文摘要：该扫描显微镜单元包括：光源，其输出照射光； 光检测器，用于检测根据照射光对观察目标的照射而从观察目标产生的观察光； 使照射光扫描观察目标并将观察光导向光检测器的MEMS反射镜； 扫描透镜，其将由MEMS镜扫描的照射光引导至显微镜光学系统，并将由显微镜光学系统形成图像的观察光引导至MEMS镜； 以及框架构件，其形成为...
- 申请日：2022-1-12 申请号：：WOJP22000701
-
- 光学及扫描电子显微镜缺陷检测之灵敏度改善
- 中文摘要：本发明揭示一种用于在一半导体堆叠内之一层上检测或执行度量之特性化系统。该系统包含经组态以自包含一或多个层之一半导体堆叠获取影像资料之一成像子系统。该半导体堆叠包含沉积于该半导体堆叠之一层上具有在05至10之间之一厚度的一金属层以在该层上形成一反射表面。该系统包含一控制器。该控制器经组态以接收该基板堆叠之该层上之该反...
- 申请日：2022-1-12 申请号：：TW111101231
-
- 显微镜装置
- 中文摘要：本发明涉及一种显微镜装置，包括：显微镜物镜(1)； 一个或多个光源； 至少3个二向色分束器(50， 51， 56)和至少2个摄像机(109， 117)，其特征在于，由光源产生的光与样品(3)相互作用，从而产生样品光束(6)， 其中- 用第一二向色分束器(50)将样品光束(6)分成光束(K)和光束(L)，其中光束(K...
- 申请日：2022-1-12 申请号：：WOEP22050491
-
|