透射电镜中一维纳米材料测试载片 中文摘要：透射电镜中一维纳米材料测试载片属于纳米材料性能原位检测领域。该载片包括中心金属片(1)、两个附耳(2)、狭缝(3)、扇形燕尾槽(4)、沿狭缝(3)对称分布的至少20个圆形栅孔(5)；分布于中心金属片(1)左右两侧且处于同一直径上的两个附耳(2)，包含附耳在内的整个金属片的直径在2.8－3mm之间；垂直于附耳(2)的... 申请日：2007-9-21    申请号：：CN200720173277.X   一种纳米材料原位结构性能测试的透射电镜载片 中文摘要：一种纳米材料原位结构性能测试的透射电镜载片属于纳米材料性能原位检测领域。该载片包括中心金属片(1)、两个附耳(2)、狭缝(3)、扇形燕尾槽(4)、沿狭缝(3)对称分布的至少20个圆形栅孔(5)；分布于中心金属片(1)左右两侧且处于同一直径上的两个附耳(2)，包含附耳在内的整个金属片的直径在2.8－3mm之间；垂直于... 申请日：2007-9-21    申请号：：CN200710122092.0   扫描电子显微镜用光阑的紫外激光微加工系统及方法 中文摘要：本发明涉及到光阑，特别是一种应用于扫描电子显微镜中的微孔和小孔光阑的紫外激光微加工系统和方法。主要由紫外激光器、计算机、扫描振镜系统、被加工材料钼薄片、工作台和夹具构成，通过激光微钻孔和激光微切孔两种方法加工不同孔径的光阑。对于15μm～50μm的微孔采用微钻孔方法加工，把钼薄片放在焦点位置，通过调整激光脉冲重复频... 申请日：2007-9-21    申请号：：CN200710122103.5   照明光学装置，显微镜装置，和图像测量装置 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种照明光学装置能够获得高的效率和一基本上均匀的照明区域不管的观察表面的高度(在一个光学轴方向位置)。溶液 : 该照明光学装置10具有一光源11，一种光学系统12具有正折射光焦度，以及一种无焦光学系统13不具有折射光焦度。所述光学系统12和所述无焦光学系统13功能作为一聚光透镜(12和13)... 申请日：2007-9-21    申请号：：JP2007245321   用于修复扁平面板显示使用激光显微镜 中文摘要： 目的 : 一种用于修补一个扁平面板显示通过使用激光显微镜是提供以正确的色像差由于一激光波长的变化和去除一虚拟的重影和图像重影由一管透镜具有一固定透镜和一可动透镜。<\/P> 构成 : 一个4波长的激光束是从一激光发射的光源(10)。所述四个波长的红外1064纳米的光，绿色光的532nm，紫外光的355nm... 申请日：2007-9-20    申请号：：KR1020070095819   总计： 14021 篇   首 页  上一页  下一页  末 页