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| - 用于处理方法的一个强度一种显微镜的图像
- 中文摘要：本发明涉及一种用于处理一个强度图像的方法(1)的一种显微镜，特别是一种强度的图像(1)。通过创建一种光显微镜或扫描电子显微镜的装置的一载体元件提供与对象(3; 4)。所述的每个像素的强度(2)所述强度的图像(1)被确定。另外，多个的最小值(Imin(S1)，Imin(S2)，Imin(S3)，Imin(S4))和最...
- 申请日：2007-9-6 申请号：：WOEP07059311
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- 原子力梯度显微镜及使用该显微镜方法
- 中文摘要：一种扫描探针显微镜，其中探针以低于其谐振频率的频率振荡，使用对悬臂弯曲敏感且对振荡最小敏感的力传感器来测量针尖-样品相互作用力。 传感器信号然后被电子学转换成力梯度信号。 当尖端被扫描通过样品表面时，梯度信号通过反馈机制保持恒定，并且力和地形信息被映射。
- 申请日：2007-9-6 申请号：：US11899571
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- 近场的光纤探头，和近场光学显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种近场的光纤探针能够提高其通用性的。溶液 : 所述近场的光纤探针14用于近场测量样品32的特征在于通过使用一个短探针缩短长度的光纤。版权 : (C)2009，inpit
- 申请日：2007-9-6 申请号：：JP2007231263
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- 荧光显微镜和微分析芯片
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一个荧光显微镜能够获取足够的光量的，同时消除该影响由于以自身的荧光。溶液 : 该荧光显微镜50包括一含有激励光源52用于发射光的光相对于一种荧光材料，荧光镜单元56用于分离所述激励光从该光源52从荧光产生从所述荧光材料，一会聚透镜58，用于暂时通过该荧光会聚所述激励光分离镜单元56，一种共焦...
- 申请日：2007-9-6 申请号：：JP2007231754
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- 偏振校正光学系统和使用该相同的显微镜装置
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一偏振校正引起的偏振状态中改变校正光学系统，其通过一个光学系统构成一个显微镜装置，和以提供一个与所述偏振显微镜装置配备校正光学系统。溶液 : 在所述偏光显微镜光学系统与一个偏振器1，一聚光透镜2，一物镜透镜3和一个分析器4，第一偏振校正光学系统10包括一序列的一个光学元件11和一个第一波板1...
- 申请日：2007-9-5 申请号：：JP2007230116
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