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| - 扫描光学显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种扫描光学显微镜，例如LSM，其中采用一种波前转换元件，具有小的离轴性能的劣化。溶液 : 该扫描光学显微镜是配备有一光源11，该波前转换元件22，它任选地将该波前的所述的照明光通过所述的光发射源11，一种发光通量扫描装置3它使一扫描与所述波前-转换的照明光从所述波前中的转换元件22相互正交...
- 申请日：2007-7-23 申请号：：JP2007191465
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- 扫描显微镜
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一个扫描显微镜，其是从辐射不需要的光，以防止当样品获取数据之前聚焦。溶液 : 在所述扫描显微镜，光从光源10被改变到两个三维扫描光通过一个扫描器12，执行点-用于所述的照明样品14是与所述扫描光，从该样品14反射的光或荧光被接收，和然后接收的光量和所述扫描器12的驱动量被组合以获得一个二维图...
- 申请日：2007-7-20 申请号：：JP2007189691
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- 一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置
- 中文摘要：一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置，属于纳米材料性能原位检测领域。该发明设计通过压电陶瓷拉伸单元、微悬臂梁力学检测系统以及电学测量系统，对单根纳米线以及其它的一维纳米材料在透射电镜中实现原位拉伸，并在拉伸过程中实现可以利用透射电镜的成像系统，原位的获得纳米尺度甚至原子尺度上的变形信息，而且还可以实现弹性...
- 申请日：2007-7-20 申请号：：CN200710119316.2
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- 激光扫描显微镜用于荧光分析
- 中文摘要：所述显微镜包括所述的照明和所述检测光线的路径，其被连接在光学上与一个dichroitic主色分束器。所述检测样品的光被引导到多个检测器的其它分束器。所述所述的照明光的入射角度和所述所述样品的光的入射角度的平均值小于40该分布所述主色的表面上的五度分束器(hft)或的另一除法器。所述入射角度是小于20度。
- 申请日：2007-7-20 申请号：：EP07014254
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- 紧凑的列电子显微镜组合装置，和缺陷观测方法。
- 中文摘要：要解决的问题 : 以实现一种扫描电子显微镜能够自动拍摄一个倾斜的检查图像从一个任意倾斜观察方向。溶液 : 一列电子设置显微镜的组合装置具有一种结构 : 一电子显微镜能束的倾斜用于带电粒子光束照射在一个观察获得的图像缺陷和检测发射的电子从一个表面的所述观察缺陷; 和紧凑的列电子显微镜使成像从所述的电子显微镜的一列上的...
- 申请日：2007-7-20 申请号：：JP2007188984
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