要解决的问题 : 以具有高精度确实地检测样品特性在所必要的最小测量时间,当测量所述多个样品的特性通过一扫描系统,其中从一个样品探针是接近\/后退在一个扫描探针显微镜,和以解决该问题,其中由于所述工作力所述探针之间的工作和所述样品是通过改变所述探针的种类或所述探针尖端的磨损状态,获得的特性值,通过一个不同的探针...
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