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| - 扫描电镜中单根纳米线原位力学综合性能测试装置及方法
- 中文摘要：一种扫描电镜中单根纳米线原位力学综合性能测试装置及方法，属于纳米材料性能原位检测领域。该发明通过设计粗调位移平台、压电陶瓷拉伸单元和微悬臂梁力学检测系统，实现对纳米线的弹性，塑性和断裂过程的力学性能定量测量，也可以对纳米线进行电学性能测量。利用扫描电子显微镜成像系统原位实时记录纳米线在力场和电场作用下弹塑性变形过程...
- 申请日：2006-12-29 申请号：：CN200610169838.9
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- 扫描电镜中单根纳米线原位力学综合性能测试装置
- 中文摘要：一种扫描电镜中单根纳米线原位力学综合性能测试装置属于纳米材料性能原位检测领域。该实用新型在带有定位孔(13)的底座(15)上固定一微悬臂梁固定座(12)，微悬臂梁(11)一端与微悬臂梁固定座(12)连接，一套位置粗调机构设置在底座(15)上，该粗调机构的中心线与微悬臂梁(11)的中心线成90°夹角；还包括激光器(8...
- 申请日：2006-12-29 申请号：：CN200620172813.X
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- 计划的消色差石英-萤石显微镜物镜
- 中文摘要：字段 : 光学系统。物质 : 本发明可以被用于在显微镜objections和发光显微镜中还在高操作温度滴在其发光激励是进行由深超-紫色(从250nm)，和工作是可见的IR范围中进行(从404至1000)。计划的消色差显微镜物镜包含单一个的前透镜和两个正分量，它由三个的单前透镜，和另一一个由两个正萤石具有负的石英玻璃...
- 申请日：2006-12-28 申请号：：RU2006147177
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- 用于原子力显微镜的照明系统和控制过程及其
- 中文摘要：目的 : 一种用于一种原子力显微镜的照明系统和一个用于控制所述相同的方法被提供以简化一种通过安装一整体结构紧凑高密度的光发射装置在一相邻的位置到一个悬臂在顺序，从而容易地照明光源。结构 : 一种用于一种原子力显微镜的照明系统包括一个图像信息获取单元(10)，一个物镜(20)，一棱镜(30)，一控制单元(400)，一...
- 申请日：2006-12-28 申请号：：KR1020060136370
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- 方法设定样品的透射电子显微镜和透射电子显微镜中用于样品稳定性的凝聚
- 中文摘要：目的 : 一种方法用于设定一个样品在透射电子显微镜和所述传输电子显微镜用于稳定样品附着被提供以防止由于铣削和弯曲特性以提高所制造的成功率该样品通过安装和固定所述样品以一上侧表面的一栅极。结构 : 一样品(100)是形成为一薄的膜形状。所述样品被安装和固定到上一栅极的侧表面(200)。该样品是一种样品的附着和固定到一...
- 申请日：2006-12-28 申请号：：KR1020060136501
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