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  • 用于原子力显微镜和其它应用的振荡器
  • 中文摘要:一种用于原子力显微镜的装置,例如传感器。 所述装置包括第一振荡器,第二振荡器,互连所述第一振荡器和第二振荡器以扭转悬挂所述第一振荡器的一对第一同轴构件,支撑结构,和一对第二同轴构件,所述一对第二同轴构件的轴线与所述第一同轴构件的轴线正交,并且互连所述第二振荡器和所述支撑结构以扭转悬挂所述第二振荡器。
  • 申请日:2006-8-18    申请号::US11506757

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  • 用于空间高度溶解过程和荧光光学显微镜,示出了一个与一个荧光着色材料的标记结构
  • 中文摘要:用于空间高度溶解过程示出了一个与一个荧光着色材料的样品的标记结构,-其中所述荧光着色材料与建议的光为一种荧光放置在条件变得活泼,-其中所述荧光的变化部分着色材料与一种光学信号展示一偏振被选择,使得从所述荧光着色材料在所述荧光放置在条件下自发发射荧光的光进入所述的着色材料的分子只从一个子集的所述荧光着色材料,其是进行...
  • 申请日:2006-8-17    申请号::DE102006038647

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  • 显微镜
  • 中文摘要:要解决的问题 : 以提供一种显微镜,其一种样品的观察位置变化改变所述的倾斜角度一种观察光学系统中的一个反射部件由一种电-供电的驱动部,和具有消除所述位移的所述样品观察所述驱动部的位置时,所述电源被接通或断开。溶液 : 所述显微镜包括 : 一个第一中最靠近所述样品侧设置物镜透镜8所述观测光学系统; 一种第二所述物镜透...
  • 申请日:2006-8-16    申请号::JP2006222008

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  • 显微镜
  • 中文摘要:本发明涉及一种用于通过光学测量照射到包含颗粒的样品上的光来分析纳米或微米范围内的颗粒的装置。 因此,本发明的装置也可以称为显微镜。 所述显微镜装置包括用于使用由分束器(2)产生的准直光束或分光光束(3,4)的干涉仪装置来检测样品体积的光学特性的变化,例如空间和/或时间上的吸收和/或折射率的变化的装置。 会聚到样品中...
  • 申请日:2006-8-16    申请号::US11990461

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  • 用于精细工作的操纵装置的显微镜
  • 中文摘要:

    要解决的问题 : 提供一种操纵装置能够高效地去除绝缘膜的,将一探针,以一个测量点和定位它有效地,和执行分钟时工作在可操作性和可靠性优异的直接测量所述一种深层的电特性的多层微布线,例如一种半导体集成电路,和分析一个有缺陷的点,同时观察样品和一针下所述的微型探针的点所述的可视场一显微观察图像。

    溶液 : 所述...

  • 申请日:2006-8-15    申请号::JP2006221399

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