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| - 扫描探针显微镜组件和用于进行分光光度，近场和扫描探针测量的方法
- 中文摘要：一种扫描探针显微镜组件，其具有原子力测量(AFM)模式，扫描隧穿测量(STM)模式，近场分光光度计模式，近场光学模式和用于检查对象的硬度测试模式。
- 申请日：2006-2-14 申请号：：US11355260
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- 用于扫描电子显微镜样品架，和其角度调整方法。
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一种用于一种扫描电子显微镜的样品台和其角度调整方法，由此该一样品可以容易地和准确地调整的角度。溶液 : 该样品台25是由所述样品的样品粘贴板30用于粘贴，三个角度调整螺钉31以支撑所述样品三个点处粘贴板30以其自由倾斜，一体33，其中所述角度调整螺钉31被螺纹，和一个底座37连接到一连接螺杆...
- 申请日：2006-2-13 申请号：：JP2006035515
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- 位移检测机构用于扫描探针显微镜和扫描探针显微镜
- 中文摘要：一位移检测机构用于一个扫描探针显微镜能够快速地进行测量的具有高精度，即使如果一个物镜透镜或一照明系统被设置一样品上方或下方或一悬臂，和一个扫描探针显微镜包括它。该位移检测机构(112)用于一个扫描探针显微镜包括一个支撑部分(22)，用于支撑一悬臂(20)，一光源(114)用于照射一反射表面(14)与光，和一个光接收...
- 申请日：2006-2-10 申请号：：WOJP06302315
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- 圆二色性的热透镜显微镜
- 中文摘要：一较高的灵敏度圆二色性的热透镜显微镜能够识别和量化的一轨迹的一个光学活性的样品。所述圆二色性的热透镜显微镜，其是一种用于检测样品中的一种物质的热透镜显微镜通过引入激励光，检测光以光学显微镜，引入所述检测光，以形成热透镜通过与所述激励光照射该样品，然后测量所引起的检测光的扩散通过所述热透镜，和其中进行识别或通过调制激...
- 申请日：2006-2-10 申请号：：WOJP06302335
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- 扫描探针显微镜装置，纳米镊子的装置，和样品表面形状的观察方法。
- 中文摘要：要解决的问题 : 以提供一个扫描探针显微镜装置能的夹持一个单独的探头和观察一种样品。溶液 : 一个观察探头10和活动臂20设置在纳米镊子1被打开或关闭由一个驱动杆的功能作为一种热致动器。当AFM观察是使用一种cnt401作为所述探针进行设置分别从所述纳米镊子1，该一种CNT中设置cnt401盒是与所述纳米夹持镊子1...
- 申请日：2006-2-10 申请号：：JP2006033531
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